公开(公告)号：CN117129029A

公开(公告)日：2023-11-28

申请号：CN202311396196.6

申请日：2023-10-26

申请人： 昂坤视觉(北京)科技有限公司

发明人： 王林梓 ,  张立芳 ,  胡勇 ,  张宏鑫 ,  翁鑫 ,  马铁中

IPC分类号： G01D21/00 ,  G01N21/84

摘要： 本发明提供了一种芯片检测方法及系统，该方法包括：当获取到待检测芯片时，通过低倍镜头构建出与待检测芯片适配的检测模板以及检测区域，检测模板设于检测区域内；启用高倍镜头，并通过高倍镜头实时采集待检测芯片的高倍芯片图像；基于预设规则构建出低倍镜头与高倍镜头之间的映射关系，并根据映射关系将高倍芯片图像映射至检测模板中，以对应完成待检测芯片的检测。本发明能够大幅节省计算资源，同时提升了用户的使用体验。

公开(公告)号：CN117129029B

公开(公告)日：2024-01-05

申请号：CN202311396196.6

申请日：2023-10-26

申请人： 昂坤视觉(北京)科技有限公司

发明人： 王林梓 ,  张立芳 ,  胡勇 ,  张宏鑫 ,  翁鑫 ,  马铁中

IPC分类号： G01D21/00 ,  G01N21/84

摘要： 本发明提供了一种芯片检测方法及系统，该方法包括：当获取到待检测芯片时，通过低倍镜头构建出与待检测芯片适配的检测模板以及检测区域，检测模板设于检测区域内；启用高倍镜头，并通过高倍镜头实时采集待检测芯片的高倍芯片图像；基于预设规则构建出低倍镜头与高倍镜头之间的映射关系，并根据映射关系将高倍芯片图像映射至检测模板中，以对应完成待检测芯片的检测。本发明能够大幅节省计算资源，同时提升了用户的使用体验。