发明公开
- 专利标题: 用于在半导体结构中埋入导体线的方法和半导体结构
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申请号: CN202310841277.6申请日: 2023-07-10
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公开(公告)号: CN117135919A公开(公告)日: 2023-11-28
- 发明人: 潘立阳 , 刘子易 , 张志刚
- 申请人: 北京超弦存储器研究院 , 清华大学
- 申请人地址: 北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街52幢5层501-12
- 专利权人: 北京超弦存储器研究院,清华大学
- 当前专利权人: 北京超弦存储器研究院,清华大学
- 当前专利权人地址: 100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创十街18号院11号楼四层401室
- 代理机构: 上海市科伟律师事务所
- 代理商 王鹏; 鲍旭日
- 主分类号: H10B12/00
- IPC分类号: H10B12/00
摘要:
本公开提供了用于在半导体结构中埋入导体线的方法以及通过使用该方法形成的具有埋入导体线的半导体结构。根据本公开的方法包括:在衬底上依次设置阱区、牺牲层、有源层和掩模层;对掩模层进行构图和刻蚀以形成硬掩模阻挡部,并且在硬掩模阻挡部的两侧形成侧墙;使用硬掩模阻挡部和侧墙自对准刻蚀有源层、牺牲层和阱区以形成延伸至衬底中的第一槽;使用第一隔离介质填充第一槽;去除硬掩模阻挡部,并且使用侧墙自对准刻蚀有源层以形成使牺牲层暴露的第二槽;通过第二槽去除牺牲层以通过第二槽在有源层下方埋入导体线,第二槽延伸至衬底;以及使用第二隔离介质填充第二槽。