Invention Publication
- Patent Title: 一种用于AA区外弧边的缺陷检测方法及装置
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Application No.: CN202310923629.2Application Date: 2023-07-26
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Publication No.: CN117197037APublication Date: 2023-12-08
- Inventor: 张莲莲 , 靳松 , 陈晨 , 李韦辰 , 陈永超 , 张建树
- Applicant: 北京兆维智能装备有限公司
- Applicant Address: 北京市朝阳区酒仙桥路14号兆维工业园B区B5栋
- Assignee: 北京兆维智能装备有限公司
- Current Assignee: 北京兆维智能装备有限公司
- Current Assignee Address: 北京市朝阳区酒仙桥路14号兆维工业园B区B5栋
- Agency: 北京轻创知识产权代理有限公司
- Agent 赖定珍
- Main IPC: G06T7/00
- IPC: G06T7/00 ; G06V10/764 ; G06V10/44 ; G06V10/82 ; G06N3/0464 ; G06V10/25 ; G06V10/80 ; G06T5/00

Abstract:
本发明涉及一种用于AA区外弧边的缺陷检测方法及装置,针对现有技术中存在的人工作业的检测方式,费时费力,效率较低,过程繁琐,主观性较强,受人员情绪、视力好坏、环境光线、不同人眼判断标准不统一的技术问题,本发明包括:获取原始图像,对所述原始图像进行液晶玻璃的边界识别,得到液晶玻璃的边缘信息;基于所述边缘信息,对原始图像进行检测区域的划分,得到待检测图像;对所述待检测图像进行去噪,得到滤波图,将所述滤波图进行图像二值化分割,得到缺陷二值图;构建缺陷分类模型,将所述缺陷二值图输入缺陷分类模型,利用缺陷分类模型对缺陷二值图进行缺陷识别,得到分类结果。本发明用于对屏幕AA区外弧边进行缺陷检测。
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