发明授权
- 专利标题: 一种缺陷检测方法、计算设备及存储介质
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申请号: CN202311203492.X申请日: 2023-09-18
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公开(公告)号: CN117197101B公开(公告)日: 2024-10-18
- 发明人: 陈宁 , 李孟员 , 刘坚 , 李蓉
- 申请人: 湖南大学
- 申请人地址: 湖南省长沙市岳麓区麓山南路麓山门
- 专利权人: 湖南大学
- 当前专利权人: 湖南大学
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市岳麓区麓山南路麓山门
- 代理机构: 北京思睿峰知识产权代理有限公司
- 代理商 谢建云; 赵爱军
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06T7/73 ; G06V10/764
摘要:
本发明公开了一种缺陷检测方法、计算设备以及存储介质,缺陷检测方法在计算设备中执行,该方法包括:将环形工件图像中的环形区域,转换为矩形,得到矩形图像;基于矩形图像,生成至少一个样本图像;将各样本图像分别输入缺陷确定模型中进行处理,以对应输出检测结果并生成对应的类激活热力图组,检测结果包括各样本图像是否包含缺陷;针对各类激活热力图组,确定包含缺陷的初始目标区域并生成自参考模板,其中,自参考模板指示该样本图像中不包含缺陷的区域;将各初始目标区域与相应自参考模板进行匹配,确定出缺陷区域的像素位置。该方法利用缺陷确定模型与无缺陷模板相结合,可以更高效、更准确地检测缺陷,此外有利于降低构建坡口缺陷数据集的成本。
公开/授权文献
- CN117197101A 一种缺陷检测方法、计算设备及存储介质 公开/授权日:2023-12-08