公开(公告)号：CN117197101A

公开(公告)日：2023-12-08

申请号：CN202311203492.X

申请日：2023-09-18

申请人： 湖南大学

发明人： 陈宁 ,  李孟员 ,  刘坚 ,  李蓉

IPC分类号： G06T7/00 ,  G06T7/73 ,  G06V10/764

摘要： 本发明公开了一种缺陷检测方法、计算设备以及存储介质，缺陷检测方法在计算设备中执行，该方法包括：将环形工件图像中的环形区域，转换为矩形，得到矩形图像；基于矩形图像，生成至少一个样本图像；将各样本图像分别输入缺陷确定模型中进行处理，以对应输出检测结果并生成对应的类激活热力图组，检测结果包括各样本图像是否包含缺陷；针对各类激活热力图组，确定包含缺陷的初始目标区域并生成自参考模板，其中，自参考模板指示该样本图像中不包含缺陷的区域；将各初始目标区域与相应自参考模板进行匹配，确定出缺陷区域的像素位置。该方法利用缺陷确定模型与无缺陷模板相结合，可以更高效、更准确地检测缺陷，此外有利于降低构建坡口缺陷数据集的成本。

公开(公告)号：CN117197101B

公开(公告)日：2024-10-18

申请号：CN202311203492.X

申请日：2023-09-18

申请人： 湖南大学

发明人： 陈宁 ,  李孟员 ,  刘坚 ,  李蓉

IPC分类号： G06T7/00 ,  G06T7/73 ,  G06V10/764

摘要： 本发明公开了一种缺陷检测方法、计算设备以及存储介质，缺陷检测方法在计算设备中执行，该方法包括：将环形工件图像中的环形区域，转换为矩形，得到矩形图像；基于矩形图像，生成至少一个样本图像；将各样本图像分别输入缺陷确定模型中进行处理，以对应输出检测结果并生成对应的类激活热力图组，检测结果包括各样本图像是否包含缺陷；针对各类激活热力图组，确定包含缺陷的初始目标区域并生成自参考模板，其中，自参考模板指示该样本图像中不包含缺陷的区域；将各初始目标区域与相应自参考模板进行匹配，确定出缺陷区域的像素位置。该方法利用缺陷确定模型与无缺陷模板相结合，可以更高效、更准确地检测缺陷，此外有利于降低构建坡口缺陷数据集的成本。