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公开(公告)号：CN116824064B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202310868643.7
申请日：2023-07-14
申请人： 湖南大学
IPC分类号： G06T17/00 , G06T5/70 , G06T7/80 , G06N3/0464 , G06N3/08
摘要： 本发明公开了一种点云数据模型生成方法、装置、计算设备及存储介质，方法包括：获取目标物体的点云输入数据；将所述点云输入数据输入点云上采样网络模型进行处理，以生成点云数据模型，以便根据所述点云数据模型抓取所述目标物体；其中，所述点云上采样网络模型包括依次耦接的特征提取模块、上采样模块和坐标重建模块，所述上采样模块包中包括自注意力机制模块。根据本发明的技术方案，生成的点云数据模型异常值更少、模型轮廓特征更明显。
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公开(公告)号：CN116823626A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310819469.7
申请日：2023-07-05
申请人： 江苏优普纳科技有限公司 , 湖南大学
摘要： 本申请公开了基于模板匹配的LED芯片角度修正方法及芯片角度修正装置。其中基于模板匹配的LED芯片角度修正方法，包括：获取待修正图像，待修正图像通过对LED芯片晶圆盘进行图像采集得到，LED芯片晶圆盘上包含多个LED芯片；利用芯片模板图像，检测待修正图像中各LED芯片的角度；基于各LED芯片的角度，确定可修正合格的LED芯片的最大集合；根据最大集合中各LED芯片的角度，确定出倾斜角度均值；按照倾斜角度均值旋转所述LED芯片晶圆盘，以实现晶圆盘中LED芯片的角度修正。
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公开(公告)号：CN116690581A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310868774.5
申请日：2023-07-14
申请人： 湖南大学
摘要： 本发明公开了一种抓取控制方法、软体抓手、计算设备及存储介质，方法在计算设备中执行以控制软体抓手抓取目标物体，所述方法包括：获取目标物体的点云输入数据；将所述点云输入数据输入点云上采样网络模型进行处理，以生成点云数据模型；根据所述点云数据模型确定目标抓取点和抓取参数，并根据所述目标抓取点和抓取参数控制所述软体抓手抓取目标物体。根据本发明的技术方案，能实现更加精准、高效地控制软体抓手对目标物体进行适应性抓取。
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公开(公告)号：CN115829945A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211440854.2
申请日：2022-11-17
申请人： 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 湖南大学
摘要： 本发明公开了一种图像中包覆燃料颗粒的检测方法，包括：获取包含包覆燃料颗粒的切片的输入图像；将输入图像输入到结合特征金字塔结构的主干网络中进行特征提取，得到第一特征图；将第一特征图输入锚框生成网络，得到锚框，并通过锚框对第一特征图进行修正，得到修正后的第二特征图；将锚框和第二特征图输入到建议提案网络中，得到建议区域；对建议区域在第二特征图上的映射进行感兴趣区域对齐操作，得到固定尺寸的第三特征图；将第三特征图输入到全卷积网络中，得到输入图像中包覆燃料颗粒的类别和位置。
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公开(公告)号：CN104850721A
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201510299191.0
申请日：2015-06-03
申请人： 湖南大学
IPC分类号： G06F17/50
摘要： 本发明公开了一种基于概率和区间的混合进行外声场预测的方法。所述方法包括：对壳结构进行有限元分析，建立结构域的有限元模型；对壳结构的外声场进行边界元分析，建立声场域的边界元模型；基于有限元模型和边界元模型，并考虑声场域与结构域在边界处的耦合作用，建立外声场分析的有限元/边界元耦合模型；根据耦合模型确定声压频率响应公式，并将公式中的外声场变量划分为随机变量和区间变量；结合概率分析方法和区间分析方法求解声压频率响应公式，得到声压频率响应的期望上下界和方差上下界。本发明还公开了一种与所述基于概率和区间的混合进行外声场预测的方法对应的基于概率和区间的混合进行外声场预测的装置和包括该装置的计算设备。
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公开(公告)号：CN115728312B
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202211503985.0
申请日：2022-11-28
申请人： 湖南大学
摘要： 本发明公开了一种激光二极管的检测成像系统，系统包括：水平运动滑台组件，适于驱动激光二极管的载盘水平运动；光源成像装置，包括竖直间隔布置的第一环形光源和第二环形光源，第一环形光源和第二环形光源适于对激光二极管进行打光；第一成像装置，包括沿竖直方向安装的第一相机和第一镜头，并适于调节第一相机和第一镜头的位置，以便通过第一相机和第一镜头采集激光二极管的第一图像；第二成像装置，包括沿倾斜方向安装的第二相机和第二镜头，并适于调节第二相机和第二镜头的位置，以便通过第二相机和第二镜头采集激光二极管的第二图像。根据本发明的技术方案，提高了待检测的激光二极管的成像效果，有利于提高检测精度和检测效率。
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公开(公告)号：CN117218076A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311153854.9
申请日：2023-09-07
申请人： 江苏优普纳科技有限公司 , 湖南大学
摘要： 本发明公开了一种芯片缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质，涉及缺陷检测技术领域。方法包括：获取芯片图像，其中，所述芯片图像包括基于多种光源组合对芯片进行成像得到的多种光源芯片图像；将所述芯片图像输入语义分割模型进行处理，以预测出所述芯片图像对应的分割掩码图；根据所述芯片图像和对应的分割掩码图，对芯片进行缺陷检测，以确定所述芯片的缺陷类型和缺陷位置。根据本发明的技术方案，多种成像有利于表现芯片上不同区域的多种缺陷类型，扩大了缺陷检测范围，增加了可检测的缺陷种类数，提高了对芯片外观进行缺陷检测的精度和检测效率。
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公开(公告)号：CN117173112A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311034255.5
申请日：2023-08-16
申请人： 湖南大学 , 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
摘要： 本发明公开了一种芯片背面检测方法、装置、计算设备及存储介质，涉及视觉检测技术领域。方法包括：获取晶圆的宏观图像，根据所述宏观图像对晶圆的微观成像位置进行路径规划，得到路径规划坐标；根据所述路径规划坐标来控制微观成像设备采集晶圆的微观图像，所述晶圆上包括多个芯片；对所述微观图像进行分割，以得到多个芯片背面图像；根据每个所述芯片背面图像进行检测，以确定每个芯片背面的缺陷类型和缺陷位置，得到每个芯片的背面检测结果；根据所有芯片的背面检测结果，绘制生成晶圆Map图像。根据本发明的技术方案，实现了自动化微观成像，提高了对芯片背面进行缺陷检测的精度和效率，通过生成Map图像实现检测结果的可视化。
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公开(公告)号：CN116824123A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310825208.6
申请日：2023-07-05
申请人： 江苏优普纳科技有限公司 , 湖南大学
IPC分类号： G06V10/22 , G06T7/11 , G06T3/40 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06N3/09 , G06V10/40 , G06V10/774 , G06N3/0464
摘要： 本申请公开了基于知识蒸馏的LED芯片定位方法及LED芯片定位装置。其中基于知识蒸馏的LED芯片定位方法包括：将待检测的LED芯片图像分割为互相有重叠区域的多个图像区域，并对各图像区域进行放大，对应得到切片图像；将待检测的LED芯片图像与各切片图像分别输入第一目标检测模型进行处理，对应得到各图像中的LED芯片检测结果，所述检测结果包括芯片检测区域及其对应的芯片类型，其中第一目标检测模型通过以第二目标检测模型的检测结果为监督训练得到；以及对各图像中的LED芯片检测区域进行合并，以确定出待检测的LED芯片图像的LED芯片区域及芯片类型。根据本申请，能够在保证检测精度的情况下，提高LED芯片检测和定位的效率，并降低部署时的硬件性能需求。
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公开(公告)号：CN115409785A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210981372.1
申请日：2022-08-16
申请人： 湖南大学 , 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
IPC分类号： G06T7/00 , G06T7/136 , G06T5/30 , G06T5/00 , G06T7/13 , G06V10/762 , G06V10/80 , G06V10/82 , G06N3/04 , G06N3/08
摘要： 本发明公开了小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法，包括：获取光模块底座的图像；将光模块底座的图像输入到目标检测模型中，得到光模块底座的缺陷检测结果；其中，目标检测模型通过下述方式生成：构建样本数据集，并将样本数据集输入预训练模型；通过K‑means++算法，生成样本数据集中每个样本数据的多个先验框；将多个先验框中的每个先验框与该样本数据所标注的真实框进行交并比计算，将交并比的值最大时的先验框作为预测结果；计算预测结果和该真实框的损失函数；基于损失函数，对预训练模型进行优化，得到目标检测模型。本发明的技术方案提升了光模块底座缺陷检测的精度。
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