一种基于折返式物镜的检测设备
摘要:
本发明提供了一种基于折返式物镜的检测设备,属于半导体检测领域,检测设备包括成像单元、变倍镜组、半透半反镜、明场光入射镜筒组、折返式物镜组、补偿镜和载台,折返式物镜组包括开孔式、增透膜加补偿镜两种模式,并在暗场光的出射路径设置功率计,本申请提供了大数值孔径NA的暗场散射信号收集,以及提供明场和暗场可选的混合双通道,实现相同NA的明暗场图像融合,提高了检测精度和灵敏度。
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