发明公开
CN117438401A 半导体封装和方法
审中-公开
- 专利标题: 半导体封装和方法
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申请号: CN202310900873.7申请日: 2023-07-21
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公开(公告)号: CN117438401A公开(公告)日: 2024-01-23
- 发明人: C·伊尔刚 , T·贝伦斯 , L·海策尔 , J·霍格劳尔 , T·迈尔 , T·沙尔夫 , F·祖多克
- 申请人: 英飞凌科技奥地利有限公司
- 申请人地址: 奥地利菲拉赫西门子大街2号
- 专利权人: 英飞凌科技奥地利有限公司
- 当前专利权人: 英飞凌科技奥地利有限公司
- 当前专利权人地址: 奥地利菲拉赫西门子大街2号
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 申屠伟进; 陈晓
- 优先权: 22186559.5 2022.07.22 EP
- 主分类号: H01L23/495
- IPC分类号: H01L23/495 ; H01L23/48 ; H01L23/31 ; H01L21/48 ; H01L21/56
摘要:
本公开涉及半导体封装和方法。在实施例中,一种半导体封装包括下表面,所述下表面包括低压接触焊盘、高压接触焊盘、输出接触焊盘和至少一个控制接触焊盘。半导体封装还包括:半桥电路,包括具有第一主表面的第一晶体管装置和具有第一主表面的第二晶体管装置,第一晶体管装置和第二晶体管装置按照电气方式在输出节点串联耦合;和控制装置,按照电气方式耦合到第一晶体管装置和第二晶体管装置。第一晶体管装置和第二晶体管装置的第一主表面被布置为基本上垂直于半导体封装的下表面。
IPC分类: