发明授权
- 专利标题: 一种晶圆加工方法及晶圆
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申请号: CN202311852331.3申请日: 2023-12-29
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公开(公告)号: CN117524870B公开(公告)日: 2024-06-11
- 发明人: 吕昆谚 , 黄任生 , 颜天才 , 杨列勇 , 陈为玉
- 申请人: 物元半导体技术(青岛)有限公司
- 申请人地址: 山东省青岛市城阳区棘洪滩街道锦盛二路金岭片区社区中心430室
- 专利权人: 物元半导体技术(青岛)有限公司
- 当前专利权人: 物元半导体技术(青岛)有限公司
- 当前专利权人地址: 山东省青岛市城阳区棘洪滩街道锦盛二路金岭片区社区中心430室
- 代理机构: 青岛清泰联信知识产权代理有限公司
- 代理商 张媛媛
- 主分类号: H01L21/331
- IPC分类号: H01L21/331 ; H01L21/304 ; H01L29/739
摘要:
本发明涉及一种晶圆加工方法及晶圆,晶圆加工方法包括:提供晶圆,晶圆的厚度为775um;研磨晶圆背面的边缘区域,以使得边缘区域与中心区域形成一台阶形,研磨边缘区域的宽度为1mm‑5mm,研磨边缘区域的深度为100um‑500um;在晶圆背面沉积形成硬掩膜层,覆盖晶圆背面的边缘区域和中心区域;研磨晶圆背面的中心区域,以使得晶圆背面的中心区域的厚度大于或等于边缘区域的厚度;对晶圆背面研磨后的中心区域进行刻蚀,以使得中心区域的厚度小于边缘区域的厚度,刻蚀后的晶圆背面的中心区域的厚度为30um‑150um;在晶圆背面进行离子注入、退火和金属沉积工艺。本发明解决了晶圆减薄工艺中的破片、表面粗糙的技术问题。
公开/授权文献
- CN117524870A 一种晶圆加工方法及晶圆 公开/授权日:2024-02-06
IPC分类: