本发明公开了一种嵌入式设备的测试方法、装置、上位机及介质，涉及嵌入式设备调测领域，其技术方案要点是：获取嵌入式设备通过通信协议开放出来的多个目标操作接口，其中多个目标操作接口是基于结构体数组对嵌入式设备搭载的多个处理器各自的硬件资源和通信接口进行封装得到的；打开目标操作接口，获取目标操作接口的接口句柄；根据接口句柄对目标操作接口执行参数设置、擦除、写入和读出的操作，完成对嵌入式设备的软件更新和/或设备测试；根据接口句柄关闭目标操作接口，并在上位机的图形界面展示对嵌入式设备的软件更新和/或设备测试的操作结果。本发明提高了嵌入式设备的测试效率、灵活性、可扩展性和通用性。