本发明提供GIS内部绝缘放电类型多光谱特征分析方法及系统，方法包括：进行密封气室实验，气室内采用SF6气体填充，模拟GIS内部环境，采用不同方式进行放电，模拟GIS的绝缘缺陷造成的不同放电故障，采用光谱仪，对紫外光谱、可见光谱和红外光谱进行采集与记录；数据挖掘，对数据归一化处理，并通过分割聚类算法辨识出光谱数据中的峰值特征，去除因放电时长对光谱数据造成的干扰；利用卷积神经网络建立放电类型识别模型，输入为采集的光谱数据A，输出为放电缺陷类型。本发明解决了GIS内部绝缘缺陷导致的放电故障类型识别易受干扰，导致故障类型识别的准确性低的技术问题。