本申请公开了一种TOF芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质，所属技术领域为成像测试技术。所述TOF芯片的功能验证方法包括：将原始灰度图中每一像素转换生成对应的目标数组；确定当前扫描探测区域，并设置目标数组的像素开关标志；控制SPAD触发模型根据目标数组生成当前像素触发信号，并将当前像素触发信号发送至TOF芯片；解析TOF芯片生成的芯片处理结果，得到采集灰度值和坐标值；在TOF芯片扫描完毕后，根据所有像素的采集灰度值和坐标值生成芯片成像图；将原始灰度图和所述芯片成像图进行图像比较，得到所述TOF芯片的灰度成像功能验证结果。本申请能够提高对TOF芯片灰度成像功能的验证精度。