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公开(公告)号：CN118091614A
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202311772262.5
申请日：2023-12-20
申请人： 深圳市灵明光子科技有限公司
摘要： 本申请公开了一种TOF芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质，所属技术领域为成像测试技术。所述TOF芯片的功能验证方法包括：为原始灰度图中每一像素生成对应的目标数组；根据TOF芯片的扫描方式确定多个扫描探测区域，根据所述扫描探测区域设置所述目标数组中所述像素开关标志的状态；控制所述SPAD触发模型根据所述目标数组生成每一所述扫描探测区域对应的像素触发信号；在所述TOF芯片扫描完毕后，根据所有所述扫描探测区域的深度信息采集结果生成芯片成像图；将所述原始灰度图和所述芯片成像图进行图像比较，得到所述TOF芯片的深度成像功能验证结果。本申请能够提高对TOF芯片深度成像功能的验证精度。
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公开(公告)号：CN114488173A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202111624407.8
申请日：2021-12-28
申请人： 深圳市灵明光子科技有限公司
IPC分类号： G01S17/10 , G01S7/4865 , G01S7/497
摘要： 本发明提供一种基于飞行时间的距离探测方法和系统，其中，方法包括：发射探测光束，所述探测光束的至少部分透过镜头向目标发射；根据探测模式，调节像素阵列的开启区域，所述开启区域包括至少一个开启像素；由所述开启像素接收经所述目标反射回的反射光；根据探测模式的不同，对所述反射光进行处理，计算得到所述目标的距离。通过不同探测模式下的开启区域调节与反射光处理，以消除不同探测模式下的距离探测干扰，提高测距的精度和信噪比。
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公开(公告)号：CN117741628A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202311766589.1
申请日：2023-12-20
申请人： 深圳市灵明光子科技有限公司
摘要： 本申请公开了一种TOF芯片的功能验证方法、系统、电子设备及存储介质，所属技术领域为成像测试技术。所述TOF芯片的功能验证方法包括：将原始灰度图中每一像素转换生成对应的目标数组；确定当前扫描探测区域，并设置目标数组的像素开关标志；控制SPAD触发模型根据目标数组生成当前像素触发信号，并将当前像素触发信号发送至TOF芯片；解析TOF芯片生成的芯片处理结果，得到采集灰度值和坐标值；在TOF芯片扫描完毕后，根据所有像素的采集灰度值和坐标值生成芯片成像图；将原始灰度图和所述芯片成像图进行图像比较，得到所述TOF芯片的灰度成像功能验证结果。本申请能够提高对TOF芯片灰度成像功能的验证精度。
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公开(公告)号：CN114970411A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210445920.9
申请日：2022-04-26
申请人： 深圳市灵明光子科技有限公司
IPC分类号： G06F30/3308 , G06F115/02
摘要： 本申请实施例公开了一种仿真验证方法及相关设备，用于减少芯片仿真验证的工作量。本申请实施例方法包括：预先定义系统芯片端的一部分存储空间为目标交互空间；其中，功能模块包括多个用例，其中一个用例通过循环执行如下三个步骤完成激励输入：步骤一、验证平台端对所述目标交互空间进行赋值，所述目标交互空间包括读写标识位、读写地址、读写数据以及读写完成标识位；步骤二、所述系统芯片端查询所述目标交互空间中的所述读写标识位，根据标识位，在所述系统芯片端完成读写操作，产生读写完成标识；步骤三、所述验证平台端等待所述目标交互空间中的读写完成标识后，跳转到步骤一。
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公开(公告)号：CN117607882A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311499031.1
申请日：2023-11-10
申请人： 深圳市灵明光子科技有限公司
IPC分类号： G01S17/10 , G01S7/4865
摘要： 本发明提供一种距离探测的零点检测方法与装置，方法包括：TOF芯片不断向驱动模块发送控制信号，驱动模块根据所述控制信号向激光器发射驱动信号时，TOF芯片同步接收到零点电信号；TOF芯片对每次接收到的所述零点电信号进行TDC转换，并基于转换得到的TDC数据在相应的时间箱上进行计数；TOF芯片根据指定范围内各个时间箱的计数结果对时间箱的值进行累加求平均处理，得到时间箱的平均值；TOF芯片根据所述时间箱的平均值，计算得到零点距离。通过对指定范围内时间箱的计数结果进行累加求平均处理，使得计算零点距离的数据处理量小，无需计算完整的直方图与寻峰处理，有效节省了零点检测占用的存储空间与硬件资源，降低检测成本。
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公开(公告)号：CN114494086A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202111682038.8
申请日：2021-12-31
申请人： 深圳市灵明光子科技有限公司
摘要： 本发明提供一种节省内存的直方图构造方法、装置及激光测距芯片，其中，方法包括：选取N个通道的TDC光子触发数据作为1个宏像素的待编码数据，每个通道对应至少一个像素单元，每个宏像素对应一个存储空间；将N个通道的TDC光子触发数据经过编码后存入TDC地址数据对应的存储空间，每个存储空间的若干个存储地址用时间箱表示，每个时间箱地址存储的数据为N个通道的TDC光子触发数据经过编码后的和；对存储空间中的编码数据进行解码，得到每个通道的累计TDC光子触发数据；根据每个通道的累计TDC光子触发数据，构建各个通道的直方图。通过构建宏像素的待编码数据，对其进行编码存储后再解码构建直方图，有效降低了直方图的存储电路规模，节约存储空间。
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公开(公告)号：CN114494086B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202111682038.8
申请日：2021-12-31
申请人： 深圳市灵明光子科技有限公司
摘要： 本发明提供一种基于飞行时间的距离探测的直方图构造方法、装置及激光测距芯片，其中，方法包括：选取N个通道的TDC光子触发数据作为1个宏像素的待编码数据，每个通道对应至少一个像素单元，每个宏像素对应一个存储空间；将N个通道的TDC光子触发数据经过编码后存入TDC地址数据对应的存储空间，每个存储空间的若干个存储地址用时间箱表示，每个时间箱地址存储的数据为N个通道的TDC光子触发数据经过编码后的和；对存储空间中的编码数据进行解码，得到每个通道的累计TDC光子触发数据；根据每个通道的累计TDC光子触发数据，构建各个通道的直方图。通过构建宏像素的待编码数据，对其进行编码存储后再解码构建直方图，降低存储电路规模，节约存储空间。
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