Invention Publication
- Patent Title: 一种高精度高效率的光谱共焦位移测量方法
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Application No.: CN202311747326.6Application Date: 2023-12-18
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Publication No.: CN117781885APublication Date: 2024-03-29
- Inventor: 朱学亮 , 茹佳玉 , 王春慧 , 王甜 , 刘思莹 , 刘丙才 , 刘卫国
- Applicant: 西安工业大学
- Applicant Address: 陕西省西安市未央区学府中路2号
- Assignee: 西安工业大学
- Current Assignee: 西安工业大学
- Current Assignee Address: 陕西省西安市未央区学府中路2号
- Agency: 西安双鼎知识产权代理事务所
- Agent 党娟娟; 郭永丽
- Main IPC: G01B11/02
- IPC: G01B11/02 ; G01B11/22

Abstract:
本发明公开了一种高精度高效率的光谱共焦位移测量方法,涉及光学测量领域。可以快速完成光谱信息解算的同时解决现有轴向分辨率低的问题。该方法包括:包括:设置彩色感光元件的位深参数,使来自光源组件的入射光通过分光棱镜、色散透镜组被待测物反射为多个第一单色反射光;使第一单色反射光经色散透镜组、分光棱镜、第一针孔形成第二单色反射光并进入所述彩色感光元件,基于所述第二单色反射光形成彩色图像;根据所述彩色图像得到与所述位深参数对应的RGB颜色值,根据所述RGB颜色值和HSI模型的转换关系得到色调参数H值,根据所述色调参数H值得到所述待测物的轴向深度信息。
Public/Granted literature
- CN117781885B 一种高精度高效率的光谱共焦位移测量方法 Public/Granted day:2024-11-15
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