本发明适用于芯片封装测试技术领域。本发明公开一种带助力机构的芯片测试载板，包括载板本体和与载板本体转动连接的助拔器，该载板本体设有收纳固定测试板的收纳腔，在该收纳腔内设有多个避空结构和对测试板进行定位的销钉，以及设于相邻避空结构之间使测试板与收纳腔底部之间形成间隙的支撑条，测试时，测试板位于收纳腔内，且测试板上的芯片承座位于避空结构上方。使用时先将测试板旋置在收纳腔内，并通过销钉进行定位后，由螺钉固定，再在载板本体有对测试板上的金手指位置上下固定上挡片和下挡片，在上挡片和下挡片之间形成的保护槽，所述测试板上的金手指位于保护槽内。由于带有助拔器方便从测试工位取出，结构简单紧凑。