一种高速半导体激光器的啁啾参数测试方法，属于光电子技术领域。目的在于克服当前扫频测试方法中需要额外辅助参量测试以及多参数拟合没有唯一解的问题。本方法通过扫频测试得到光纤传递函数曲线，调节待测高速半导体激光器的偏置电流改变其输出光功率，使得光纤传递函数曲线在高频处的功率极小点的频率恰好不再随高速半导体激光器输出光功率变化而变化，然后通过光纤传递函数曲线在高频处的功率极小点的频率计算得到光纤色散参数和高速半导体激光器的线宽增强因子，接着使用最小二乘法拟合法得到高速半导体激光器的绝热啁啾系数，最终计算获得高速半导体激光器的啁啾参数。