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公开(公告)号：CN120028598A
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202510206941.9
申请日：2025-02-25
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种光电探测器光电响应测量方法，属于光电子技术领域，旨在提供一种用于测量光电探测器频率响应的宽带、低成本方法。本发明中，激光器输出的光信号在电光强度调制器中分别被第一信号源和第二信号源输出信号调制；利用控制及数据处理模块控制第一信号源输出信号的频率固定，改变第二信号源输出信号频率，将调制光信号输入到待测光电探测器中，利用信号分析模块分析待测光电探测器输出的频率分量，提取并消除电光强度调制器的频率响应，最终实现了待测光电探测器光电响应的测量。
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公开(公告)号：CN118944761A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202410950592.7
申请日：2024-07-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: H04B10/50 , H04B10/516
Abstract: 本发明公开了一种基于直调激光器的光生多频微波信号产生装置。本发明利用直调激光器构成光电振荡器环路，同时利用电混频器将信号源提供的外部注入信号与环路振荡产生的电信号进行混频，混频产生两者的差频信号及和频信号，利用宽带滤波器和可调谐窄带滤波器构成的滤波模块，产生频率、载频数目均可调谐的多频微波信号，产生的多频微波信号对直调激光器进行调制，构成闭合环路，同时分路进行输出。通过调节外部注入信号的频率和功率、滤波模块的通带中心频率，实现光生多频微波信号的频率、载频数目的灵活调谐。
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公开(公告)号：CN118641835A
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202410669063.X
申请日：2024-05-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种光电探测器频率响应测试装置，激光器输出的光信号经过移频模块分为具有固定频差的两路光载波信号，一路经过电光频梳模块输出电光频梳信号，另一路经过电光调制模块输出调制光信号，两路光信号经过光合路器后送入到待测光电探测器中；第一信号源与电光频梳模块电连接，第二信号源与电光调制模块电连接，待测光电探测器与信号分析模块电连接；控制及数据处理模块分别与第一信号源、第二信号源、信号分析模块进行数据连接。本发明提供了一种光电探测器频率响应测试方法，利用控制及数据处理模块控制第一信号源、第二信号源输出信号频率和幅度，并控制信号分析模块测量待测光电探测器输出光电流信号的幅度，通过分析计算得到待测光电探测器的频率响应。
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公开(公告)号：CN115664512A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211290604.5
申请日：2022-10-21
Applicant: 电子科技大学
IPC: H04B10/079 , H04B10/54 , H04B10/548
Abstract: 本发明公开了一种电光调制器频响参数测试方法，将激光器输出的直流光信号通过光分路器分为两路，一路经过待测电光调制器，另一路经过移频器，两路光信号通过光合路器送入光电探测器；信号源与待测电光调制器电连接，光电探测器与频谱分析模块电连接；控制及数据处理模块分别与信号源、频谱分析模块进行数据连接。本发明提供了一种电光调制器频响参数测试方法，利用控制及数据处理模块设置信号源输出正弦信号频率和幅度，并控制频谱分析模块测量移频频率处的信号幅度，通过分析计算可获得电光强度调制器或电光相位调制器的频响参数。
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公开(公告)号：CN113759234B
公开(公告)日：2022-12-09
申请号：CN202111046387.0
申请日：2021-09-02
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种光电探测器芯片频率响应的测试方法，属于光电子技术领域。本发明利用光学频率梳产生的相干光学梳状谱信号，输入到电光调制器中经微波网络分析模块信号源输出的扫频微波信号调制，调制后的光信号被光耦合到待测光电探测器芯片中进行光电转换，光电转换得到的电信号被微波网络分析模块接收机探测，通过分析探测到的电信号就能得到只包含光电探测器芯片频率响应和微波探针响应的联合响应。随后，进行微波参考面校准、微波功率校准和终端反射系数测试以获得计算微波探针响应所需的各项参数，由此计算得到微波探针的响应。最后，从联合响应中扣减微波探针的响应就可以得到待测光电探测器芯片的频率响应。本方法具备光电探测器裸芯片测试能力，无需进行额外的匹配封装就可以实现光电探测器芯片频率响应测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114814331A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210291049.1
申请日：2022-03-23
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R19/00
Abstract: 本发明公开了一种马赫曾德尔调制器半波电压的测试方法。本发明中激光器输出的光载波进入待测马赫曾德尔调制器，一个正弦电信号加载到待测马赫曾德尔调制器的调制端，另一个正弦电信号加载到待测马赫曾德尔调制器的偏置端，调制后的光信号进入光电探测器进行拍频，改变待测马赫曾德尔调制器偏置端加载电信号的幅度平均值，得到两组频谱图，对两组频谱图中的数据进行分析得到待测马赫曾德尔调制器的调制系数，进而得到其半波电压。该方法适用于任意分光比的马赫曾德尔调制器，而且可以分别测试马赫曾德尔调制器调制端和偏置端的半波电压，具有装置简单、操作方便、分辨率高的优点。
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公开(公告)号：CN112556740B
公开(公告)日：2021-12-28
申请号：CN202011297897.0
申请日：2020-11-19
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种光电探测器的光电响应测量方法，属于光电子技术领域，旨在提供一种用于光电探测器光电响应测量的宽频段、高精细、自校准方法。本发明利用光学频率梳的重复频率将待测光电探测器的测量频率范围分段，在段内，通过电光强度调制器上加载的幅度调制，分析特定的频率分量，去除电光强度调制器的影响，得到待测光电探测器在每段内的光电响应，之后设置幅度调制微波信号源的输出频率，进行段间拼接并消除光学频率梳的影响，最终得到了待测光电探测器的宽频段光电响应，其中，通过改变幅度调制微波信号源的输出频率就可以实现待测光电探测器在宽频段内任意频率的光电响应测量。
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公开(公告)号：CN113114350A
公开(公告)日：2021-07-13
申请号：CN202110365976.9
申请日：2021-03-30
Applicant: 电子科技大学
IPC: H04B10/071
Abstract: 本发明公开了一种基于移频外差的波长编码光时域反射测试装置及方法，属于光纤链路测试技术领域。本发明由激光源、声光移频器、编码信号发生器、环形器、偏振控制器、光电探测器、时频分析模块、分束器、合束器组成。本发明方法用编码信号发生器产生频率编码的射频信号驱动声光移频器，通过声光移频器对激光源进行编码产生波长编码的光信号，经过分束器分为探测光信号和参考光信号分别输入环形器和合束器，探测光信号进入被测光纤中遇到断点后产生反射光信号从环形器经过偏振控制器输入合束器，与参考光信号进入光电探测器拍频，拍频信号进入时频分析模块进行分析处理。相比现有技术，本发明提高了波长调谐速率和波长调谐稳定度，能够实现更窄的脉冲和更窄的拍频信号线宽。
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公开(公告)号：CN113097844A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202110360037.5
申请日：2021-04-02
Applicant: 电子科技大学
IPC: H01S3/067 , H01S3/08 , H01S3/0933 , H01S3/10
Abstract: 本发明公开了一种单频调Q激光器，具体是基于回音壁模式微腔及非线性偏振旋转技术的单频调Q激光器，作为一个不含光滤波器的光纤环路，由单模半导体激光器对增益介质进行泵浦；由具有高Q值的回音壁模式微球腔和锥形光纤组成的耦合系统作为选模滤波结构实现窄带滤波功能，通过回音壁模式微腔进行窄带模式选择，从而得到窄线宽单频调Q激光输出，结构简单；通过调整偏振控制器可实现对窄线宽单频调Q激光的中心波长和脉冲重复频率等参数的调谐。
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公开(公告)号：CN111082872B
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN201911212494.9
申请日：2019-11-29
Applicant: 电子科技大学
IPC: H04B10/50 , H04B10/516 , H04B10/548 , H04B10/54 , G01S7/4911 , G01S17/89
Abstract: 本发明属于光电技术领域，具体涉及一种基于电控扫频的傅里叶域锁模光电振荡器及实现方法。本发明采用基于受激布里渊散射的微波光子滤波器，利用电光移频技术实现微波光子滤波器的快速扫频，从而构建傅里叶域锁模光电振荡器，并通过设置微波光子滤波器的扫频周期、扫频范围以及中心频率，实现具有大瞬时带宽、低相位噪声、高频率稳定度和高线性度的线性调频信号产生。
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