发明公开
- 专利标题: 超结碳化硅MOSFET及其制备方法、芯片
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申请号: CN202410132736.8申请日: 2024-01-31
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公开(公告)号: CN117855280A公开(公告)日: 2024-04-09
- 发明人: 张婷
- 申请人: 深圳天狼芯半导体有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋裙楼904-905
- 专利权人: 深圳天狼芯半导体有限公司
- 当前专利权人: 深圳天狼芯半导体有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南路18号深圳湾科技生态园12栋裙楼904-905
- 代理机构: 深圳中一联合知识产权代理有限公司
- 代理商 阳方玉
- 主分类号: H01L29/78
- IPC分类号: H01L29/78 ; H01L23/48 ; H01L29/06 ; H01L21/336
摘要:
本申请属于功率器件技术领域,提供了一种超结碳化硅MOSFET及其制备方法、芯片,通过在源极层下方形成与栅极层连接的P型多晶硅层,实现从源极层、P型多晶硅层、电流扩展层、N型漂移区、碳化硅衬底到漏极层的续流通道,使得器件的导通电阻大大低于其体二极管,提高了器件的第三象限性能。并通过在P柱的一侧设置高K介质层可以提升器件的击穿电压,并在P柱的另一侧形成N型漂移区,P柱的引入可以辅助耗尽N型漂移区,如此可以降低高K介质层所需的介质材料的介电常数,由高K介质层吸引N型漂移区的大部分电场线,并且在P柱和N型漂移区之间存在电荷不平衡的情况下也可以避免降低器件的性能。
IPC分类: