发明授权
- 专利标题: 存储器自测试动态分组方法及装置
-
申请号: CN202410389491.7申请日: 2024-04-02
-
公开(公告)号: CN117995255B公开(公告)日: 2024-07-02
- 发明人: 张靖卓 , 叶靖
- 申请人: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村东路18号1幢9层B-1003
- 专利权人: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
- 当前专利权人: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村东路18号1幢9层B-1003
- 代理机构: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司
- 代理商 王月松
- 主分类号: G11C29/14
- IPC分类号: G11C29/14 ; G11C29/20 ; G11C29/26
摘要:
本发明公开了一种存储器自测试动态分组方法及装置,该方法包括:获取待测试资源中存储器当前周期的访问数据,该待测试资源中包括至少一个存储器组,该存储器组中包括至少一个存储器,该存储器组与测试策略一一对应;根据该访问数据确定该存储器的当前访问频次;根据该存储器的该当前访问频次及历史访问频次更新该存储器的分组。本发明通过以测试资源中各待测试存储器的访问频次为依据,完善了相关技术中对存储器自测试过程中存储器的分组的局限性,有效避免了测试只能按照固定测试方案对所有存储器进行,进而在以访问频次为依据进行动态分组的基础上,提供合理的待测试存储器的分组方案,最终提高了存储器的测试效率及灵活性,节省了测试时间。
公开/授权文献
- CN117995255A 存储器自测试动态分组方法及装置 公开/授权日:2024-05-07