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公开(公告)号：CN118897793A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839163.2
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本申请涉及一种诊断覆盖率的确定方法、装置、电子设备及可读介质，其中，方法包括：获取目标对象提供的目标文件，并根据目标文件确定安全机制的输出点；识别电路模块上与输出点对应的输入点以及中间结构，其中，电路模块上覆盖多个安全机制，中间结构为输出点与输入点之间的连接部分；从目标文件中提取与安全机制对应的第一诊断覆盖率，并将第一诊断覆盖率映射至与输入点、输出点以及中间结构对应的部件上；根据各个部件之间的层级关系以及第一诊断覆盖率确定电路模块以及各个部件的第二诊断覆盖率。解决了无法准确地计算同时被多个安全机制覆盖的部件的诊断覆盖率的问题。
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公开(公告)号：CN118897790A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839134.6
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种集成诊断分析与失效率的FMEDA计算方法、装置、设备及介质，方法包括：获取电子系统上各个组件的多类组件信息，并获取计算诊断覆盖率时生成的参数文件；根据多类组件信息以及参数文件提取与各个组件对应的分析数据，并分别将分析数据填入第一表格的对应列，得到第二表格，其中，第一表格的列名为预先设置并填入的；利用分析数据计算每个组件上各个故障类型的失效率，并将失效率填入第二表格，得到FMEDA汇总表格；通过FMEDA汇总表格分别计算单点故障度量、潜伏故障度量以及随机硬件失效概率度量。解决了FMEDA计算得到的度量指标的准确度不可信的问题。
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公开(公告)号：CN117852495B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410263517.3
申请日：2024-03-08
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G06F30/398
摘要： 本申请涉及一种电路的插链方法、装置、设备及计算机可读介质。本申请提出一套完整的插链流程，从电路解析、用户模块唯一化处理、链数/扫描单元均衡策略到电路层次关系的打平与穿透操作，替代传统的插链方案以提高电路的解析能力和处理速度，在多时钟场景下也能成功解析并得到较高故障覆盖率，解决了传统插链方法无法覆盖多时钟场景，且无法对更高层次的Hierarchical电路进行插链操作的技术问题。
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公开(公告)号：CN117995262A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410404409.3
申请日：2024-04-07
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G11C29/56
摘要： 本申请提供一种存储器自测试静态分组方法及装置，该方法包括：当接收到存储器静态分组指令时，通过预定的存储器测试成本算法确定各存储器的测试成本；按照测试成本从大到小的顺序，对各存储器进行排序，得到存储器序列；按照预定的分组方法，依次将序列中相邻的多个存储器分为同组。本申请通过分组后，可以对存储器进行按组测试，对于不同测试成本的存储器组可以相应地规划测试次数，从而可以提高存储器的测试效率，降低测试总成本。
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公开(公告)号：CN117852495A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410263517.3
申请日：2024-03-08
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G06F30/398
摘要： 本申请涉及一种电路的插链方法、装置、设备及计算机可读介质。本申请提出一套完整的插链流程，从电路解析、用户模块唯一化处理、链数/扫描单元均衡策略到电路层次关系的打平与穿透操作，替代传统的插链方案以提高电路的解析能力和处理速度，在多时钟场景下也能成功解析并得到较高故障覆盖率，解决了传统插链方法无法覆盖多时钟场景，且无法对更高层次的Hierarchical电路进行插链操作的技术问题。
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公开(公告)号：CN117849596A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410263529.6
申请日：2024-03-08
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本申请公开了一种面向向量精简的分布式自动测试向量生成方法和系统。该系统包括：采用远程过程调用GRPC框架的主节点和多个从节点，主节点将测试任务下发给从节点，其包括一个待测故障子集合；从节点利用原始测试向量对测试任务进行故障仿真之后，建立原始测试向量与能检测到的故障之间的对应关系，得到故障字典，通过将向量精简转换为集合覆盖的方式，利用故障字典对从节点内所有原始测试向量进行精简，将精简后的故障字典和测试向量发送给主节点，主节点得到合并的故障字典，利用合并的故障字典对所有从节点的测试向量进行精简，得到最终使用的测试向量，从而解决了相关技术中分布式ATPG方法会带来测试向量数量膨胀的技术问题。
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公开(公告)号：CN118898007A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839162.8
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种故障仿真结果的转换方法、装置、电子设备及可读介质，包括：获取故障仿真结果以及预设匹配策略；按照预设匹配策略对故障仿真结果进行分类，得到安全分类结果；对安全分类结果以及故障仿真结果进行层级划分，得到层级数据，并将层级数据转换为第一结构报告，以及根据故障仿真结果生成第二结构报告。通过将故障仿真结果与安全故障类型进行匹配，然后再通过层级划分来将匹配后的故障仿真结果转换为能够直接用于安全分析的第一结构报告，以及根据故障仿真结果生成能够直接用于安全分析的第二结构报告，解决了故障仿真结果需要经过复杂的数据处理才能进行安全性分析的问题。
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公开(公告)号：CN118897794A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839170.2
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种模拟插入诊断机制后的安全分析方法、装置、设备及介质，其中，方法包括：在目标对象输入安全机制文件的情况下，确定被目标对象选中的与安全机制文件对应的输入对比点以及输出对比点；确定与输入对比点以及输出对比点对应的第一电路范围；根据安全机制文件对第一电路范围进行划分，以确定与各个安全机制对应的第二电路范围；获取各个第二电路范围中的状态单元的单元信息，并根据单元信息对第一电路范围内的全部状态单元进行安全度量，得到第一度量结果；根据第一度量结果生成安全分析报告，其中，安全分析报告包括对安全机制的效果评价。解决了安全分析时由于忽略了安全机制的引入导致分析结果不够全面的问题。
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公开(公告)号：CN117872097B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410263521.X
申请日：2024-03-08
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本申请公开了一种基于强化学习的数字电路自动测试向量生成方法和装置。其中，该方法包括：在利用自动测试向量生成算法ATPG来为待测芯片生成测试向量的过程中，获取面向路径决策的测试生成算法PODEM的历史数据，即对待测芯片进行第一轮的故障敏化、故障传播以及线值确认来激活第一故障的测试模式所形成的数据，利用强化学习算法从历史数据中学习回退策略；在利用PODEM对待测芯片进行第N轮的故障敏化、故障传播以及线值确认来激活第二故障的测试模式的过程中，利用回退策略来指导PODEM进行回退路径的选择，从而生成待测芯片的测试向量。本申请解决了相关技术中测试向量生成过程中回溯次数较多的技术问题。
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公开(公告)号：CN117851107B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410263524.3
申请日：2024-03-08
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请公开了一种可动态扩容的分布式自动测试向量生成方法、装置及系统。其中，该系统包括：管理节点，在云平台中调整计算节点的数量，以与测试需求所需计算资源匹配；将全局队列中的测试任务分发给各计算节点；通过比对历史数据窗口和各计算节点检测到的故障确定新测故障，并在新测故障的数量达到设定阈值时，将所有新测故障同步给计算节点集合中的各计算节点、并更新至历史数据窗口；计算节点集合，各计算节点根据接收到的任务中的故障列表生成测试向量，进行故障仿真并将故障仿真中检测的故障反馈给管理节点；在接收到更新通知时将故障列表中新测故障的状态更新为已检测。本申请解决了传统分布式ATPG不能应付测试需求的快速变化的技术问题。
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