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公开(公告)号：CN118897791A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839142.0
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请涉及一种面向故障仿真后的电路安全评估方法、装置、设备及介质，其中，方法包括：获取电路系统的第一结构报告，其中，第一结构报告为对插入安全机制后的电路系统的故障仿真结果进行层级转换得到的；按照预设映射规则将第一结构报告中的故障标识映射至目标标识，以对第一结构报告进行标识合并，得到具备层级结构的第二结构报告利用目标计算模式以及第二结构报告计算电路系统中各个部件的诊断覆盖率；获取目标覆盖率，并利用目标覆盖率以及诊断覆盖率进行安全评估，得到电路系统的安全评估结果。解决了无法对插入安全机制后的电路系统进行全面准确的安全评估的问题。
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公开(公告)号：CN118897746A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839151.X
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G06F11/07 , H04L41/0631
摘要： 本申请涉及一种故障诊断机制的插入方法、装置、电子设备及可读介质，其中，方法包括：获取在执行安全工程过程中得到的逻辑锥文件、故障率贡献文件以及端点传输文件；根据逻辑锥文件与故障率贡献文件确定故障诊断机制的机制类型，以及根据端点传输文件确定故障诊断机制的插入点，其中，机制类型包括实例级与寄存器级；获取与机制类型对应的目标故障诊断机制，并在插入点插入目标故障诊断机制。通过逻辑锥文件、故障率贡献文件以及端点传输文件分析逻辑锥的各个端点的故障率贡献、端点分布以及端点的数据传输情况，以确定与分析结果匹配的故障诊断机制类型以及最佳插入点。解决了无法灵活地确定最佳的故障诊断机制类型和插入位置的问题。
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公开(公告)号：CN118897172A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410839140.1
申请日：2024-06-26
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G01R31/28 , G06F30/398 , G06F30/396 , G06F17/18
摘要： 本申请涉及一种电路门级失效率的分析方法、装置、电子设备及可读介质，其中，方法包括：在检测到目标对象触发目标操作的情况下，调用与目标操作对应的目标模型；对电路系统进行层级分析，并建立与电路系统的层级结构对应的树状图，其中，树状图的各个节点上包括节点上的组件的属性信息；根据目标模型以及属性信息计算树状图上各个层级的失效率；根据树状图以及各个层级的失效率对电路系统进行失效率分析。通过先对电路系统进行层级分析得到树状图，然后对树状图的各层级进行失效率计算，最后综合各层级的失效率进行电路分析，解决了整体失效率难以用来进行层次化的失效率分析的问题。
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公开(公告)号：CN118569170A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202411037334.6
申请日：2024-07-31
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G06F30/331 , G01R31/317 , G06F30/333 , G06F9/50 , G06F9/54
摘要： 本申请公开了一种内存高效型的故障仿真与诊断方法和装置、存储介质。该方法包括：在对目标数字电路进行故障诊断的过程中，利用测试向量集合对目标数字电路进行逻辑仿真，得到第一逻辑结果；调用GPU的M个线程，利用测试向量集合中的测试向量和第一逻辑结果来对目标数字电路的M个待测故障进行并行故障仿真，得到故障仿真结果，M个线程为并行运行的线程，测试向量的个数不大于GPU的机器字长N，M和N为正整数；在利用测试向量集合中的测试向量和第一逻辑结果来对目标数字电路的M个待测故障进行并行故障仿真的过程中，M个线程共享GPU的显存内第一逻辑结果所在的第一存储空间。本申请解决了相关技术中芯片的故障仿真的速度较慢的技术问题。
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公开(公告)号：CN118566700A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202411037331.2
申请日：2024-07-31
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
发明人： 叶靖
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本申请涉及一种ATPG动态测试精简方法、装置、设备及计算机可读介质。该方法包括：初始化电路中所有潜在次要故障对应的失败惩罚因子和测试向量集；基于失败惩罚因子结合先验启发式规则确定各潜在次要故障的综合优先级，基于综合优先级确定当前次要故障；基于ATPG算法生成当前次要故障对应的测试向量，并判断测试向量生成结果；若测试向量生成成功，则将生成的测试向量添加至测试向量集中，同时更新当前次要故障的失败惩罚因子，并迭代执行上述步骤；若测试向量生成失败，则更新当前次要故障的失败惩罚因子，并迭代执行上述步骤，直至测试向量生成失败的次数达到失败次数阈值。本申请解决了ATPG动态测试精简方法自适应性低的问题。
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公开(公告)号：CN117872102B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410263519.2
申请日：2024-03-08
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G01R31/3183
摘要： 本申请涉及一种测试向量精简方法、装置、设备及计算机可读介质。本申请将机器学习引入测试向量静态精简，通过机器学习方法预测故障的易测性，提前预测难测故障与易测故障，只对一小部分难测故障建立局部故障字典，最后基于局部故障字典进行向量精简，大大减少了时间开销，解决了相关技术在实际生产应用中带来过大的计算复杂度的技术问题。
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公开(公告)号：CN117852494B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410263515.4
申请日：2024-03-08
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
IPC分类号： G06F30/398
摘要： 本申请涉及一种针对DFF优化的逻辑仿真加速方法和装置，所述方法包括：若电路门的当前输出值和上一次的输出值不一致，则将所述电路门产生的事件加入事件队列；根据所述电路门对应的扇出门的类型，将所述扇出门加入所述事件队列或DFF标识队列，其中，所述扇出门是指所述电路门的直属下级模块；在所述事件队列中的事件处理完成后，若确定所述DFF标识队列不为空，则根据所述DFF标识队列中DFF的输入端口变化信息确定所述DFF是否为有效事件；若所述DFF为有效事件，则将所述DFF标识队列中的有效事件加入至所述事件队列，对所述有效事件进行处理。本申请提高仿真性能。
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公开(公告)号：CN117995255B
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410389491.7
申请日：2024-04-02
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种存储器自测试动态分组方法及装置，该方法包括：获取待测试资源中存储器当前周期的访问数据，该待测试资源中包括至少一个存储器组，该存储器组中包括至少一个存储器，该存储器组与测试策略一一对应；根据该访问数据确定该存储器的当前访问频次；根据该存储器的该当前访问频次及历史访问频次更新该存储器的分组。本发明通过以测试资源中各待测试存储器的访问频次为依据，完善了相关技术中对存储器自测试过程中存储器的分组的局限性，有效避免了测试只能按照固定测试方案对所有存储器进行，进而在以访问频次为依据进行动态分组的基础上，提供合理的待测试存储器的分组方案，最终提高了存储器的测试效率及灵活性，节省了测试时间。
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公开(公告)号：CN117995255A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410389491.7
申请日：2024-04-02
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种存储器自测试动态分组方法及装置，该方法包括：获取待测试资源中存储器当前周期的访问数据，该待测试资源中包括至少一个存储器组，该存储器组中包括至少一个存储器，该存储器组与测试策略一一对应；根据该访问数据确定该存储器的当前访问频次；根据该存储器的该当前访问频次及历史访问频次更新该存储器的分组。本发明通过以测试资源中各待测试存储器的访问频次为依据，完善了相关技术中对存储器自测试过程中存储器的分组的局限性，有效避免了测试只能按照固定测试方案对所有存储器进行，进而在以访问频次为依据进行动态分组的基础上，提供合理的待测试存储器的分组方案，最终提高了存储器的测试效率及灵活性，节省了测试时间。
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公开(公告)号：CN117851107A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410263524.3
申请日：2024-03-08
申请人： 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
摘要： 本申请公开了一种可动态扩容的分布式自动测试向量生成方法、装置及系统。其中，该系统包括：管理节点，在云平台中调整计算节点的数量，以与测试需求所需计算资源匹配；将全局队列中的测试任务分发给各计算节点；通过比对历史数据窗口和各计算节点检测到的故障确定新测故障，并在新测故障的数量达到设定阈值时，将所有新测故障同步给计算节点集合中的各计算节点、并更新至历史数据窗口；计算节点集合，各计算节点根据接收到的任务中的故障列表生成测试向量，进行故障仿真并将故障仿真中检测的故障反馈给管理节点；在接收到更新通知时将故障列表中新测故障的状态更新为已检测。本申请解决了传统分布式ATPG不能应付测试需求的快速变化的技术问题。
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