本发明公开一种DFN封装器件用的可靠性测试设备，其竖直设置的第一支撑板表面具有若干个第一转轴柱，该第一转轴柱在竖直方向上间隔分布，此安装板通过第一通孔套装在第一转轴柱上，连接杆沿长度方向设置有若干个第二通孔，安装板的表面设置有一第二转轴柱，该第二转轴柱与相应的第二通孔套装连接，第二安装架的第二支撑板平行于第一支撑板设置，支撑架沿竖直方向间隔安装在第二支撑板表面，第二置物板固定安装在支撑架的顶部，电动伸缩杆的一端与连接杆中部转动连接，其另一端安装在腔体内壁上。本发明可以实现置物板的收折，便于对腔体内部器件进行维护、检修，还可以实现置物板的打开，将腔体分割成多层，对多组芯片进行测试，提高了空间利用率。