一种基于设计文件对比来获取ECO点的方法
摘要:
本发明公开了一种基于设计文件对比获取ECO点的方法,用于芯片设计中改版设计与原始设计差异点ECO的查找,该方法包括:对比原始设计的原版GTECH文件和改版设计的改版GTECH文件,找到关键点信息;根据所述关键点信息,对电路的元件组成和连接进行分析比对,找到差异ECO点;本发明的方法在不依赖商业LEC工具的同时,大大缩短了ECO点的获取时间。
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