发明公开
- 专利标题: 基于红外光谱吸收峰特征值的硅橡胶复合绝缘子老化检测方法
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申请号: CN202410223231.2申请日: 2024-02-28
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公开(公告)号: CN118111943A公开(公告)日: 2024-05-31
- 发明人: 张志劲 , 梁田 , 蒋兴良 , 胡建林 , 胡琴 , 郑华龙 , 李雨泰 , 杨国林
- 申请人: 重庆大学
- 申请人地址: 重庆市沙坪坝区沙正街174号
- 专利权人: 重庆大学
- 当前专利权人: 重庆大学
- 当前专利权人地址: 重庆市沙坪坝区沙正街174号
- 代理机构: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司
- 代理商 胡博文
- 主分类号: G01N21/3563
- IPC分类号: G01N21/3563 ; G01R31/12
摘要:
本发明提供的一种基于红外光谱吸收峰特征值的硅橡胶复合绝缘子老化检测方法,包括以下步骤:S1.确定典型运行环境下的老化硅橡胶复合绝缘子;S2.测量老化硅橡胶复合绝缘子和新品硅橡胶绝缘子的傅里叶红外光谱,并基于傅里叶红外光谱获取典型官能团;S3.计算典型官能团的吸收峰特征值;S4.基于典型官能团的吸收峰特征值计算老化特征比值,并基于老化特征比值计算老化特征综合值,基于老化特征综合值判断典型运行环境下的老化硅橡胶复合绝缘子的老化状态,通过上述方法,能够对复合绝缘子的老化程度进行准确检测,从而有效提升老化检测精度,为后续复合绝缘子的运维措施的制定提供准确的数据支持,确保电网稳定运行。