本发明属于集成电路领域，具体涉及一种基于参考电路动态匹配的高可靠性存内计算电路、芯片。该电路包括基于SRAM单元构成的存算阵列以及各种外围电路。存算阵列中的各个SRAM单元采用具有双字线的SRAM单元；按奇数行和偶数行将存算阵列中的SRAM单元分为两类，一类全作为计算单元，另一类全作为量化单元。存算阵列中每列的两条位线连接在一个SA上。按列运算过程中，各计算单元的计算电压输出到一侧位线，量化阶段选择与计算行临界的量化行，参考电压输出到另一侧位线。该方案可以克服位线寄生因素的影响，进而提高电路的可靠性。此外，本发明还特别选择7T‑SRAM单元构成存算阵列，以克服电路读破坏的问题。