发明公开
- 专利标题: 一种用于光学元件表面颗粒的去除装置及方法
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申请号: CN202410578668.8申请日: 2024-05-10
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公开(公告)号: CN118455193A公开(公告)日: 2024-08-09
- 发明人: 苗心向 , 朱启华 , 蒋晓东 , 蒋一岚 , 周国瑞 , 向思衡 , 牛龙飞 , 尤辉 , 吕海兵
- 申请人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 申请人地址: 四川省绵阳市绵山路64号
- 专利权人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 当前专利权人地址: 四川省绵阳市绵山路64号
- 代理机构: 北京高沃律师事务所
- 代理商 张德才
- 主分类号: B08B5/04
- IPC分类号: B08B5/04 ; B08B7/02 ; B08B11/00 ; B08B13/00
摘要:
本发明公开了一种用于光学元件表面颗粒的去除装置,包括吸附系统、显微系统以及位置调节系统。本发明还提供一种用于光学元件表面颗粒的去除方法,位置调节系统带动吸附系统移动至靠近光学元件表面的微米颗粒处;声波发生器发出的声波振动能够减弱光学元件对表面微米级颗粒的吸附力,并使光学元件表面的微米颗粒聚集,在负压吸附器的负压作用下,聚集的颗粒由负压吸附器的吸附口被吸入负压吸附器的内腔,并由吸附管排出;利用显微系统观测光学元件表面的颗粒是否被去除。本发明采用非接触无损处理方式对光学元件表面微米颗粒进行去除,处理效果好,无二次污染产生,且对环境空间无要求,便携性好,处理效率高。