发明公开
- 专利标题: 晶圆研磨装置及晶圆研磨方法
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申请号: CN202410749318.3申请日: 2024-06-11
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公开(公告)号: CN118456276A公开(公告)日: 2024-08-09
- 发明人: 周庆亚 , 李伟 , 刘福强 , 孟晓云
- 申请人: 北京晶亦精微科技股份有限公司
- 申请人地址: 北京市大兴区经济技术开发区泰河三街1号2幢2层101
- 专利权人: 北京晶亦精微科技股份有限公司
- 当前专利权人: 北京晶亦精微科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市大兴区经济技术开发区泰河三街1号2幢2层101
- 代理机构: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司
- 代理商 冯瑶
- 主分类号: B24B37/11
- IPC分类号: B24B37/11 ; B24B37/34 ; B24B47/12 ; B24B47/22 ; B24B57/02 ; B24B1/00
摘要:
本发明涉及半导体技术领域,公开了一种晶圆研磨装置及晶圆研磨方法,本发明提供的晶圆研磨装置,通过将挡板设置在相邻的两个研磨盘之间,将两个研磨盘所在的研磨腔室分隔开,便于直接阻挡研磨盘飞溅出的研磨液,避免研磨液、晶圆碎片对其他研磨腔室内的研磨过程造成影响,同时通过对挡板固定,并对挡板的顶部高度小于或等于转动部的顶部高度,以及令挡板的底部高度低于挡圈升起后的上沿高度,并高于或等于研磨头升起后的下沿高度,避免使用过程中对挡板进行升降,不会出现占用机台运行时间的现象,提高机台运行的效率。