发明公开
- 专利标题: X射线荧光谱发射谱联用检测装置及方法
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申请号: CN202410600593.9申请日: 2024-05-15
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公开(公告)号: CN118518696A公开(公告)日: 2024-08-20
- 发明人: 王旭 , 李海菁 , 舒淼 , 林晓胜 , 王苗苗 , 司锐
- 申请人: 深圳综合粒子设施研究院
- 申请人地址: 广东省深圳市光明区新湖街道圳园路268号3号楼3-6层
- 专利权人: 深圳综合粒子设施研究院
- 当前专利权人: 深圳综合粒子设施研究院
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市光明区新湖街道圳园路268号3号楼3-6层
- 代理机构: 深圳中一联合知识产权代理有限公司
- 代理商 涂皓
- 主分类号: G01N23/2206
- IPC分类号: G01N23/2206 ; G01N23/223 ; G01N23/2204
摘要:
本申请提供了一种X射线荧光谱发射谱联用检测装置及方法,检测装置包括X射线发射组件、载样组件、X射线发射谱检测结构以及X射线荧光谱检测结构。X射线发射谱检测结构包括能量色散弯晶组件和X射线接收组件。能量色散弯晶组件包括能量色散弯晶体和晶体调节机构,工作时需确保待测样品、能量色散弯晶体以及X射线接收组件均位于同一个罗兰圆上。X射线荧光谱检测结构包括硅漂移探测器组件,其用于接收X射线荧光谱。硅漂移探测器组件具有探头,探头、待测样品以及X射线光路设于同一水平面内。本申请的X射线荧光谱发射谱联用检测装置可以应用于样品无损元素的含量、价态、电子自旋、轨道劈裂及分布的同步分析测试。