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    荧光X射线分析装置
    1.
    发明公开
    荧光X射线分析装置 审中-公开

    公开(公告)号：CN118556183A

    公开(公告)日：2024-08-27

    申请号：CN202380015622.9

    申请日：2023-04-10

    申请人： 株式会社理学

    发明人： 川上裕幸

    IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/2204

    摘要： 本发明提供一种荧光X射线分析装置，其通过使薄板状样品的背面的状态为一样，不会产生因测定位置所致的测定条件的差异。一种荧光X射线分析装置具备：X射线源，其用1次X射线照射板状的样品的表面；探测器，其测定荧光X射线的强度；样品台，其载置样品；分析部，其在样品的表面的多个测定位置进行分析；背景校正盖，其具有沿样品台的外缘的一部分形状的外缘部分，与样品台的外侧相邻，并且表面配置在与样品台的表面大致同一平面上；移动机构，其使样品台移动，以便1次X射线照射到样品的表面的任意测定位置，其中，移动机构使背景校正盖随着样品台的移动而移动，当测定位置的样品背面无样品台时，使背景校正盖移动至测定位置的样品背面。

    X射线荧光谱发射谱联用检测装置及方法
    2.
    发明公开
    X射线荧光谱发射谱联用检测装置及方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN118518696A

    公开(公告)日：2024-08-20

    申请号：CN202410600593.9

    申请日：2024-05-15

    申请人： 深圳综合粒子设施研究院

    发明人： 王旭 ,  李海菁 ,  舒淼 ,  林晓胜 ,  王苗苗 ,  司锐

    IPC分类号： G01N23/2206 ,  G01N23/223 ,  G01N23/2204

    摘要： 本申请提供了一种X射线荧光谱发射谱联用检测装置及方法，检测装置包括X射线发射组件、载样组件、X射线发射谱检测结构以及X射线荧光谱检测结构。X射线发射谱检测结构包括能量色散弯晶组件和X射线接收组件。能量色散弯晶组件包括能量色散弯晶体和晶体调节机构，工作时需确保待测样品、能量色散弯晶体以及X射线接收组件均位于同一个罗兰圆上。X射线荧光谱检测结构包括硅漂移探测器组件，其用于接收X射线荧光谱。硅漂移探测器组件具有探头，探头、待测样品以及X射线光路设于同一水平面内。本申请的X射线荧光谱发射谱联用检测装置可以应用于样品无损元素的含量、价态、电子自旋、轨道劈裂及分布的同步分析测试。

    一种基于钢中夹杂物分布识别团簇夹杂物的方法
    4.
    发明公开
    一种基于钢中夹杂物分布识别团簇夹杂物的方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN118348032A

    公开(公告)日：2024-07-16

    申请号：CN202410450224.6

    申请日：2024-04-15

    申请人： 燕山大学 ,  北方工业大学

    发明人： 任强 ,  张立峰 ,  王伟健 ,  王哲 ,  赵春艳

    IPC分类号： G01N23/00 ,  G01N23/2204 ,  G01N23/2251 ,  G01N23/20 ,  G01N23/20091 ,  G01N23/203

    摘要： 本发明公开了一种基于钢中夹杂物分布识别团簇夹杂物的方法，首先根据二维平面下钢中夹杂物的位置坐标和尺寸信息，设定组成团簇夹杂物的颗粒之间的最大临界距离和最小颗粒个数。根据夹杂物的位置坐标和尺寸计算任意两个夹杂物之间的距离，当两个夹杂物之间的距离小于所设定的临界距离时，判定此两个夹杂物为一组夹杂物，当组成夹杂物的颗粒个数大于所设定的临界夹杂物个数时，则将此组夹杂物判定为一个团簇夹杂物。通过此种方法能够有效根据夹杂物的分布推测钢中团簇夹杂物的数量和尺寸，弥补当前二维平面下对团簇夹杂物的尺寸和数量评估的不足。

    一种基于GM制冷机的带双旋转轴的低温样品架
    5.
    发明授权
    一种基于GM制冷机的带双旋转轴的低温样品架 有权

    公开(公告)号：CN111812140B

    公开(公告)日：2024-07-16

    申请号：CN202010530730.8

    申请日：2020-06-11

    申请人： 费勉仪器科技(上海)有限公司

    发明人： 谢斌平 ,  董金奎 ,  王冰雷 ,  雷霆霏

    IPC分类号： G01N23/2273 ,  G01N23/2204

    摘要： 本发明提供了一种基于GM制冷机的带双旋转轴的低温样品架，包括制冷机(1)、法兰(2)和样品架头部，所述制冷机(1)包括一级冷头(3)和二级冷头(4)，所述二级冷头(4)连接所述一级冷头(3)，其特征在于：还包括面内角驱动电机(51)、面内角Rotary Feedthrough(52)、面内角柔性轴(53)、面内角传动轴(54)、面内角滑移联轴器(55)、面内角滑移齿轮组(56)、面内角万向节联轴器(57)、面内角直齿齿轮组(58)、面内角蜗轮蜗杆组(59)和样品台(7)。本发明的有益效果是：基于GM制冷机，可以在样品托极低温的前提下可实现2自由度旋转并且2个旋转运动相互独立，不受干扰并且在超大温区变化范围内面内角的运动顺畅。

    一种金相试样制备和测试用辅助装置及其安装与使用方法
    6.
    发明公开
    一种金相试样制备和测试用辅助装置及其安装与使用方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN118311074A

    公开(公告)日：2024-07-09

    申请号：CN202410441070.4

    申请日：2024-04-12

    申请人： 安徽工业大学

    发明人： 张玉龙 ,  夏文真

    IPC分类号： G01N23/2202 ,  G01N23/2204 ,  G01N23/2251

    摘要： 本发明公开了一种金相试样制备和测试用辅助装置及其安装与使用方法，属于实验器材技术领域。该装置包括底座、扫描电镜样品平台和紧固件；所述底座的上表面设有伸入底座内的盲孔，所述扫描电镜样品平台的底部具有与所述盲孔相匹配的钉柱；所述底座的侧面设有水平延伸至所述盲孔的螺纹孔，所述紧固件具有与所述螺纹孔相匹配的柱状结构，柱状结构的表面设有与所述螺纹孔相匹配的外螺纹。本发明能够方便快捷地实现对金相试样的制备和测试，且装置的整体稳定性较佳。

    确定物体的位置的方法、计算机程序产品和辐射设备
    8.
    发明公开
    确定物体的位置的方法、计算机程序产品和辐射设备 审中-实审

    公开(公告)号：CN118190995A

    公开(公告)日：2024-06-14

    申请号：CN202311683986.2

    申请日：2023-12-07

    申请人： 卡尔蔡司显微镜有限责任公司

    发明人： J·比伯格

    IPC分类号： G01N23/2251 ,  G01N23/2204 ,  G01N23/20 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/20025 ,  G01N23/04

    摘要： 本发明涉及一种用于确定物体在辐射设备中的位置的方法，该辐射设备具有处理器单元并且该辐射设备用于对物体进行加工、成像和/或分析。该方法具有以下步骤：(i)在辐射设备中，一方面提供物体的可预设区域，并且另一方面提供标记，其中可预设区域关于标记具有第一位置，并且其中第一位置通过第一距离和第二距离给出；(ii)旋转物体或旋转辐射设备的接收装置；(iii)确定另外的第二距离；以及(iv)使用第一距离、第二距离以及另外的第二距离确定物体的可预设区域关于标记的第二位置。

    原位观测台、单颗粒微电极制备装置及微电极制备方法
    9.
    发明公开
    原位观测台、单颗粒微电极制备装置及微电极制备方法 审中-实审

    公开(公告)号：CN118130524A

    公开(公告)日：2024-06-04

    申请号：CN202410252731.9

    申请日：2024-03-06

    申请人： 清华大学

    发明人： 李哲 ,  周威 ,  左安昊

    IPC分类号： G01N23/2251 ,  G01N23/2206 ,  G01N23/22 ,  G01N23/2204 ,  G01N23/2255

    摘要： 本发明涉及一种原位观测台、单颗粒微电极制备装置及微电极制备方法。本发明实施例提供的原位观测台包括基体，基体上设有间隔设置的第一定位部和第二定位部，第一定位部的数量为多个，第一定位部用于将探针定位于基体上，第二定位部用于将盛有颗粒体的承载片定位于基体上。在单颗粒微电极制备过程中，可以将基体置于真空环境中，并通过第一定位部和第二定位部将多个探针和承载有颗粒体的承载片固定在基体上，从而能够通过控制颗粒体与探针靠近，以使颗粒体与探针的尖端电连接，从而在真空环境内一次性制备多个单颗粒微电极，不需要重复构建真空环境，提高了效率，同时解决了频繁打开操作室导致灰尘进入，污染操作室，导致系统损坏的问题。