本发明属于二极管耐老化测试领域，涉及一种二极管耐老化测试方法，本发明通过二极管分组测试流程涵盖多环节以确保质量，首先，从生产批次中抽取样品，分组进行加速、高温存储、高低温循环及盐雾等老化测试，随后，采集各项测试数据，包括加速老化、高温存储、高低温循环及盐雾环境下的表现，数据分析阶段，通过计算性能稳定、热稳定性、热应力分布符合及腐蚀抵抗能力系数，全面评估二极管性能，最终，综合各系数分析耐老化符合指数，并以此为依据判断二极管耐老化程度是否达标，及时发出预警，该流程旨在提前识别潜在质量问题，有效的提升了二极管可靠性与耐久性评估的科学性和准确性。