半导体器件和制造该半导体器件的方法
摘要:
公开了一种半导体器件和制造该半导体器件的方法。该半导体器件包括:衬底,该衬底包括第一区域和第二区域;第一区域上的有源区域和第二区域上的外围有源区域;有源区域上的沟道图案;外围有源区域上的外围沟道图案;沟道图案上的第一栅电极;以及外围沟道图案上的第二栅电极。第二栅电极的线宽大于第一栅电极的线宽,并且第一栅电极和第二栅电极之间的高度差小于约10nm,并且第二栅电极的顶表面具有双凹形状。
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