- 专利标题： 一种基于编码器-解码器架构的缺陷检测方法
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申请号： CN202411031477.6申请日： 2024-07-30
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公开(公告)号： CN118967618A公开(公告)日： 2024-11-15
- 发明人: 王卫 , 于波 , 魏翰廷 , 王宁 , 王鸿亮 , 张守晨 , 金继鑫
- 申请人： 中国科学院沈阳计算技术研究所有限公司
- 申请人地址： 辽宁省沈阳市东陵区南屏东路16号
- 专利权人： 中国科学院沈阳计算技术研究所有限公司
- 当前专利权人： 中国科学院沈阳计算技术研究所有限公司
- 当前专利权人地址： 辽宁省沈阳市东陵区南屏东路16号
- 代理机构： 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002专利代理师周宇
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06V10/40 ; G06V10/764 ; G06V10/82 ; G06N3/0455 ; G06N3/08 ; G06N3/0464
摘要：
本发明提出一种基于编码器‑解码器架构的缺陷检测方法。包括：设计空间增强网络进行数据增强，以深度残差网络作为特征提取部分进行特征提取，多层编码器网络将特征提取后的缺陷图像特征图的输入序列经过多个编码器转化为一个固定维度的向量表示，多层解码器网络根据编码器生成的向量表示来生成目标序列，捕捉的全局信息，进而通过预测匹配模块完成对缺陷的检测过程。本发明方法应用于工业缺陷检测能够达到更精确、更鲁棒的检测效果。
