Invention Publication
- Patent Title: 一种基于分频段AD采样的多核异构电弧监测芯片及方法
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Application No.: CN202411530885.6Application Date: 2024-10-30
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Publication No.: CN119414177APublication Date: 2025-02-11
- Inventor: 宋如楠 , 张蓬鹤 , 杨艺宁 , 吴忠强 , 陈敢超 , 薛阳 , 王加英 , 陈少雄 , 郜波 , 陈昊 , 王璧成 , 王聪 , 杨柳 , 于浩
- Applicant: 中国电力科学研究院有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区清河小营东路15号
- Assignee: 中国电力科学研究院有限公司
- Current Assignee: 中国电力科学研究院有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河小营东路15号
- Agency: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- Agent 贾银秋
- Main IPC: G01R31/12
- IPC: G01R31/12 ; G01R19/25

Abstract:
本发明公开了一种基于分频段AD采样的多核异构电弧监测芯片及方法,监测芯片包括:调理电路、模拟前端电路、处理器单元、AI智能诊断单元、存储单元以及通信接口;故障电弧信号经过调理电路,进行信号放大和滤波处理;将经过处理后的故障电弧信号输入至模拟前端电路;模拟前端电路用于对不同频段的故障电弧信号进行采集;处理器单元与模拟前端电路相连接,用于对不同频段的故障电弧信号的电弧特征值进行识别;AI智能诊断单元与处理器单元和模拟前端电路相连接,用于对电弧特征值进行智能诊断识别,获取诊断结果;存储单元与模拟前端电路、处理器单元以及AI智能诊断单元相连接,用于存储运行中的数据;通信接口,用于将诊断结果传输至终端。
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