发明公开
CN1622305A 检测半导体装置过热的装置及方法
失效 - 权利终止
- 专利标题： 检测半导体装置过热的装置及方法
- 专利标题（英）： Device and method for detecting the overheating of a semiconductor device
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申请号： CN200410095882.0申请日： 2004-11-26
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公开(公告)号： CN1622305A公开(公告)日： 2005-06-01
- 发明人: G·埃格斯 , N·沃思 , H·本辛格 , T·胡伯
- 申请人： 因芬尼昂技术股份公司
- 申请人地址： 联邦德国慕尼黑
- 专利权人： 因芬尼昂技术股份公司
- 当前专利权人： 因芬尼昂技术股份公司
- 当前专利权人地址： 联邦德国慕尼黑
- 代理机构： 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 吴立明; 梁永
- 优先权： 10355333.9 2003.11.27 DE
- 主分类号： H01L21/66
- IPC分类号： H01L21/66 ; G01R31/26
摘要：
本发明涉及一种用以检测半导体装置过热的装置(1，11，21)及方法，其包含一种温度测量装置(3，13，23)，而当半导体装置的温度变化时，该温度测量装置(3，13，23)会改变其导电性。
公开/授权文献
- CN100388452C 检测半导体装置过热的装置及方法 公开/授权日：2008-05-14
IPC分类:
