发明公开
CN1687990A 光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法
- 专利标题(英): Method for testing axial rotation defect of optical head moment apparatus
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申请号: CN200510066030.3申请日: 2005-04-22
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公开(公告)号: CN1687990A公开(公告)日: 2005-10-26
- 发明人: 马建设 , 汝继刚 , 潘龙法 , 吴建明 , 徐端颐 , 季建东 , 朱建标 , 张建勇 , 史洪伟 , 秦利琴
- 申请人: 清华大学 , 江苏银河电子股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区清华园
- 专利权人: 清华大学,江苏银河电子股份有限公司
- 当前专利权人: 清华大学,江苏银河电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区清华园
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 罗文群
- 主分类号: G11B20/00
- IPC分类号: G11B20/00 ; G11B21/02 ; G01D21/00
摘要:
本发明涉及一种光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法,属于光存储设备性能测试技术领域。首先在不同频率下输出正弦信号;驱动力矩器在聚焦方向或循迹方向产生抖动;使一束激光照射到力矩器物镜的反射点上,测得该点处的抖动速度;对速度信号进行积分,得到该点在正弦信号激励下的位移响应信号,绘制力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线,并得到力矩器聚焦线圈和循迹线圈的一阶共振频率;根据力矩器聚焦线圈和循迹线圈的幅值频率特性曲线判断力矩器的轴向旋转缺陷。本发明提出的光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法,用于及时改进生产工艺,保证产品质量。
公开/授权文献
- CN100369139C 光学头力矩器的轴向旋转缺陷的检测方法 公开/授权日:2008-02-13