发明公开
- 专利标题: 薄膜晶体管的制造方法
- 专利标题(英): Fabrication method of thin film transistor
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申请号: CN200410075870.1申请日: 2004-12-31
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公开(公告)号: CN1738011A公开(公告)日: 2006-02-22
- 发明人: 朴炳建 , 徐晋旭 , 梁泰勋 , 李基龙
- 申请人: 三星SDI株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 三星SDI株式会社
- 当前专利权人: 三星显示有限公司
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 陶凤波; 侯宇
- 优先权: 66090/04 2004.08.20 KR
- 主分类号: H01L21/336
- IPC分类号: H01L21/336 ; H01L29/786
摘要:
本发明提供一种制造薄膜晶体管的方法,包括在衬底上形成非晶硅层的步骤,在非晶硅层上形成帽盖层的步骤,在帽盖层上形成金属催化剂层的步骤,在金属催化剂层上经选择性辐照激光束扩散金属催化剂的步骤,晶化非晶硅层的步骤。本发明具有如下优点:提供了一种制造薄膜晶体管的方法,其中该薄膜晶体管的制造方法通过利用选择性辐照激光束均匀控制低浓度催化剂的扩散以及利用超晶粒硅(super grain silicon)方法在非晶硅层晶化过程中控制晶粒尺寸和晶体生长位置和方向,从而改进了器件的性能并获得了器件的均匀性。
公开/授权文献
- CN100517616C 薄膜晶体管的制造方法 公开/授权日:2009-07-22
IPC分类: