薄膜晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:CN100379025C

    公开(公告)日:2008-04-02

    申请号:CN200410092219.5

    申请日:2004-11-03

    IPC分类号: H01L29/786 H01L21/336

    摘要: 提供了一种薄膜晶体管及其制造方法,不仅改善了电学特性,如电子迁移率,而且还改善了整个衬底的电学特性的均匀性。薄膜晶体管包括具有MILC区的半导体层,该MILC区具有通过MILC法结晶的第一晶粒和设置在第一晶粒之间的第二晶粒,所述第二晶粒具有不同于所述第一晶粒的晶体特性,并通过固相结晶法形成。薄膜晶体管的制造方法包括:在衬底上沉积非晶硅并对沉积的非晶硅构图以形成半导体层;在所述半导体层的多个区域上沉积诱导结晶金属层;对衬底上沉积所述诱导结晶金属层的地方进行第一热处理,在所述半导体层中形成金属诱导横向结晶区;和在衬底上形成所述金属诱导横向结晶区的地方以高于所述第一热处理的温度进行第二热处理。

    薄膜晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:CN1716633A

    公开(公告)日:2006-01-04

    申请号:CN200410075895.1

    申请日:2004-12-31

    IPC分类号: H01L29/786 H01L21/336

    摘要: 本发明涉及薄膜晶体管及其制造方法。通过均匀控制晶化催化剂的低浓度和控制晶化位置使得在薄膜晶体管的沟道层中不存在籽晶并且不存在晶界或只存在一个晶界,从而开发出一种具有改进的特性和均匀性的薄膜晶体管。薄膜晶体管包括:衬底;在衬底上形成的半导体层图案,该半导体层图案具有不存在籽晶且不存在晶界的沟道层;在半导体层图案上形成的栅绝缘膜;以及在栅绝缘膜上形成的栅电极。一种用于制造薄膜晶体管的方法包括:在衬底上形成非晶硅层;通过晶化并构图非晶硅层,形成具有其中不存在籽晶且不存在晶界的沟道层的半导体层图案;在半导体层图案上形成栅绝缘膜;以及在栅绝缘膜上形成栅电极。

    薄膜晶体管的制造方法

    公开(公告)号:CN1738011A

    公开(公告)日:2006-02-22

    申请号:CN200410075870.1

    申请日:2004-12-31

    IPC分类号: H01L21/336 H01L29/786

    摘要: 本发明提供一种制造薄膜晶体管的方法,包括在衬底上形成非晶硅层的步骤,在非晶硅层上形成帽盖层的步骤,在帽盖层上形成金属催化剂层的步骤,在金属催化剂层上经选择性辐照激光束扩散金属催化剂的步骤,晶化非晶硅层的步骤。本发明具有如下优点:提供了一种制造薄膜晶体管的方法,其中该薄膜晶体管的制造方法通过利用选择性辐照激光束均匀控制低浓度催化剂的扩散以及利用超晶粒硅(super grain silicon)方法在非晶硅层晶化过程中控制晶粒尺寸和晶体生长位置和方向,从而改进了器件的性能并获得了器件的均匀性。

    薄膜晶体管及平板显示装置

    公开(公告)号:CN100411194C

    公开(公告)日:2008-08-13

    申请号:CN200410089964.4

    申请日:2004-06-25

    IPC分类号: H01L29/786 G02F1/136

    CPC分类号: H01L29/78675 H01L29/42384

    摘要: 本发明公开了一种薄膜晶体管及平板显示装置。该薄膜晶体管具有布置于基底上的半导体层、布置于基底上和半导体层上的栅极绝缘层、以及布置于栅极绝缘层上的栅极,栅极绝缘层布置成厚度为从等于半导体层厚度至半导体厚度的1.5倍。栅极绝缘层可仅是氮化物层、仅是氧化物层、或由氮化物层和氧化物层两者构成的叠层膜。该薄膜晶体管能结合在用于平板显示装置的构造中。