发明公开
- 专利标题： 有选通数据和时钟的自定时的可靠性和产品载体
- 专利标题（英）： Self-timed reliability and yield vehicle with gated data and clock
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申请号： CN200510088210.1申请日： 2005-07-25
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公开(公告)号： CN1738020A公开(公告)日： 2006-02-22
- 发明人: R·舒尔茨 , D·奥曼 , J·富瑞
- 申请人： LSI罗吉克公司
- 申请人地址： 美国加利福尼亚州
- 专利权人： LSI罗吉克公司
- 当前专利权人： LSI公司
- 当前专利权人地址： 美国加利福尼亚州
- 代理机构： 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 钱慰民
- 优先权： 10/900,642 2004.07.27 US
- 主分类号： H01L21/66
- IPC分类号： H01L21/66 ; H01L23/544 ; H01L27/02 ; G01R31/26 ; G01R31/28
摘要：
本发明揭示了用来评估互连模块生产过程同时以高速工作频率动态地测试性能的一种测试载体、系统和方法。该测试载体组入一种自定时的或选通的速度电路。能根据扫描触发器电路的测试数据记录检测微小的电阻性故障并正确确定阵列中发生速度数据故障的位置。一个实施例在产生选通数据的选通速度电路中装入了选通时钟，对集成电路直接漏极静电流(IDDQ)测试提供较大的统计特性。
公开/授权文献
- CN1738020B 有选通数据和时钟的自定时的可靠性和产品载体 公开/授权日：2010-06-23
IPC分类:
