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公开(公告)号：CN1845300B
公开(公告)日：2010-04-14
申请号：CN200610059549.3
申请日：2006-03-06
申请人： LSI罗吉克公司
CPC分类号： G01R31/2831 , G01R31/318533
摘要： 一种用于通过至少两个不同的交叉测试路径识别各种电路模块从而收集并分析集成电路测试载体测试数据的系统和方法。在一个实施例中，工艺测试电路可以以阵列的方式排列和相互连接，这样可以沿行或列来对它们进行测试。当一个沿特定行与特定列的故障被识别时，在该交叉处的工艺测试电路可以被标识为故障点。
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公开(公告)号：CN1738020B
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：CN200510088210.1
申请日：2005-07-25
申请人： LSI罗吉克公司
IPC分类号： H01L21/66 , H01L23/544 , H01L27/02 , G01R31/26 , G01R31/28
摘要： 本发明揭示了用来评估互连模块生产过程同时以高速工作频率动态地测试性能的一种测试载体、系统和方法。该测试载体组入一种自定时的或选通的速度电路。能根据扫描触发器电路的测试数据记录检测微小的电阻性故障并正确确定阵列中发生速度数据故障的位置。一个实施例在产生选通数据的选通速度电路中装入了选通时钟，对集成电路直接漏极静电流(IDDQ)测试提供较大的统计特性。
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公开(公告)号：CN1738020A
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN200510088210.1
申请日：2005-07-25
申请人： LSI罗吉克公司
IPC分类号： H01L21/66 , H01L23/544 , H01L27/02 , G01R31/26 , G01R31/28
摘要： 本发明揭示了用来评估互连模块生产过程同时以高速工作频率动态地测试性能的一种测试载体、系统和方法。该测试载体组入一种自定时的或选通的速度电路。能根据扫描触发器电路的测试数据记录检测微小的电阻性故障并正确确定阵列中发生速度数据故障的位置。一个实施例在产生选通数据的选通速度电路中装入了选通时钟，对集成电路直接漏极静电流(IDDQ)测试提供较大的统计特性。
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公开(公告)号：CN100547783C
公开(公告)日：2009-10-07
申请号：CN200510092707.0
申请日：2005-08-18
申请人： LSI罗吉克公司
IPC分类号： H01L23/544 , H01L27/02 , H01L21/82 , H01L21/66 , G06F17/50
摘要： 一种用于评估集成电路的制造工艺的试验载体，该载体用所设置的库驱动元件的更高效率的空间布局产生实施许多互连的电路，这些互连可以在制造工艺的最小设计参数下设计。这些元件可以设置成作为环振荡器工作，提高允许更高的频率电路试验的试验模块的有效电路频率，以及缩短用于进行寿命循环试验的时间。明显地对元件进行标记，并结合电隔离错误易发的电路节段使缺陷的识别的效率更高许多试验方法的可获得使根致失效的定位更快捷，进一步改进了制造工艺。
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公开(公告)号：CN1845300A
公开(公告)日：2006-10-11
申请号：CN200610059549.3
申请日：2006-03-06
申请人： LSI罗吉克公司
CPC分类号： G01R31/2831 , G01R31/318533
摘要： 一种用于通过至少两个不同的交叉测试路径识别各种电路模块从而收集并分析集成电路测试载体测试数据的系统和方法。在一个实施例中，工艺测试电路可以以阵列的方式排列和相互连接，这样可以沿行或列来对它们进行测试。当一个沿特定行与特定列的故障被识别时，在该交叉处的工艺测试电路可以被标识为故障点。
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公开(公告)号：CN1738043A
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN200510092707.0
申请日：2005-08-18
申请人： LSI罗吉克公司
IPC分类号： H01L23/544 , H01L27/02 , H01L21/82 , H01L21/66 , G06F17/50
摘要： 一种用于评估集成电路的制造工艺的试验载体，该载体用所设置的库驱动元件的更高效率的空间布局产生实施许多互连的电路，这些互连可以在制造工艺的最小设计参数下设计。这些元件可以设置成作为环振荡器工作，提高允许更高的频率电路试验的试验模块的有效电路频率，以及缩短用于进行寿命循环试验的时间。明显地对元件进行标记，并结合电隔离错误易发的电路节段使缺陷的识别的效率更高许多试验方法的可获得使根致失效的定位更快捷，进一步改进了制造工艺。
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