发明公开
- 专利标题: 用于自动曝光控制和相关二重抽样的CMOS成像
- 专利标题(英): CMOS imaging for automatic exposure control and correlated double sampling
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申请号: CN200480024614.8申请日: 2004-06-30
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公开(公告)号: CN1843026A公开(公告)日: 2006-10-04
- 发明人: H·E·罗德斯
- 申请人: 微米技术有限公司
- 申请人地址: 美国爱达荷州
- 专利权人: 微米技术有限公司
- 当前专利权人: 普廷数码影像控股公司
- 当前专利权人地址: 美国爱达荷州
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 杨凯; 张志醒
- 优先权: 60/483,906 2003.07.02 US; 10/689,635 2003.10.02 US
- 国际申请: PCT/US2004/020930 2004.06.30
- 国际公布: WO2005/006738 EN 2005.01.20
- 进入国家日期: 2006-02-27
- 主分类号: H04N3/15
- IPC分类号: H04N3/15
摘要:
本发明实施例提供了允许自动照明控制和相关二重抽样操作的像素单元。像素单元包括可被独立读出的第一和第二光电转换器件。例如,第二光电转换器件可以是像素单元的浮动扩散区,带有适用于光电转换的区域和掺杂分布图。图像传感器可包括像素单元阵列,其中的一些或所有的像素单元带有两个光电转换器件;并且可包括用于从像素单元读出信号的外围电路。图像传感器的读出电路可监控由第二光电转换器件生成的电荷,以此确定什么时候读出来自第一光电转换器件的信号。
公开/授权文献
- CN1843026B 用于自动曝光控制和相关二重抽样的CMOS成像 公开/授权日:2010-12-22