发明公开
CN1843028A 减小成像器件中暗电流和有缺陷的像素的影响的方法和设备
失效 - 权利终止
- 专利标题: 减小成像器件中暗电流和有缺陷的像素的影响的方法和设备
- 专利标题(英): Method and apparatus for reducing effects of dark current and defective pixels in an imaging device
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申请号: CN200480024492.2申请日: 2004-06-24
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公开(公告)号: CN1843028A公开(公告)日: 2006-10-04
- 发明人: C·穆利
- 申请人: 微米技术有限公司
- 申请人地址: 美国爱达荷州
- 专利权人: 微米技术有限公司
- 当前专利权人: 微米技术有限公司
- 当前专利权人地址: 美国爱达荷州
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 杨凯; 王勇
- 优先权: 10/603,796 2003.06.26 US
- 国际申请: PCT/US2004/020012 2004.06.24
- 国际公布: WO2005/004464 EN 2005.01.13
- 进入国家日期: 2006-02-27
- 主分类号: H04N5/16
- IPC分类号: H04N5/16 ; H04N5/217
摘要:
用于识别和补偿具有图像处理设备的高分辨率数字摄像机中有缺陷的像素的影响的方法和设备。所述设备包括:存储系统,用于存储与像素阵列捕获的暗电流基准图像和白基准图像以及至少一个实际图像对应的数据;以及至少一个处理器,它连接到存储系统,用于根据存储的数据补偿与实际图像对应的数据。所述方法包括:捕获和存储暗基准图像和白基准图像两者以及捕获和存储实际图像;识别受暗电流影响的像素或有缺陷的像素;从所述存储系统读出实际图像的与受暗电流影响的或有缺陷的像素对应的数据;以及补偿所述受影响的像素。
公开/授权文献
- CN100423541C 减小成像器件中暗电流和有缺陷的像素的影响的方法和设备 公开/授权日:2008-10-01