本发明提供结晶生长晶体的质量评价方法，包括确定切断位置和取样位置的步骤和试样评价步骤，前一步骤包括：a)确定试样位置，输入按照不同装备、不同制品确定切断位置、取样位置和最初位置的基本信息；b)按基本信息预先确定切断位置、最初位置和取样位置；c)监控晶体生长过程，分析和保存与晶体的生长相关的X因素；d)反映基本信息和X因素，确定切断位置和取样位置。这样，在选择分辨监控的影响晶体质量的主要因素(X因素)后，以进行统一对比和分析为基础，制定确定切断位置和取样位置、取样数的规则，使剩余检验和不使用的最初的量最小化，把数据制作成数据库，用自动化系统构建切断和取样业务，可以使操作人员和现场的业务量减少。