发明公开
- 专利标题: 平面超薄绝缘体上半导体沟道MOSFET及其制造方法
- 专利标题(英): Planar ultra-thin semiconductor-on-insulator channel mosfet and manufacturing method thereof
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申请号: CN200610115911.4申请日: 2006-08-17
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公开(公告)号: CN1941412A公开(公告)日: 2007-04-04
- 发明人: 程慷果 , D·奇丹巴尔拉奥 , B·J·格林 , J·A·曼德尔曼 , K·里姆
- 申请人: 国际商业机器公司
- 申请人地址: 美国纽约
- 专利权人: 国际商业机器公司
- 当前专利权人: 格芯公司
- 当前专利权人地址: 美国纽约
- 代理机构: 北京市中咨律师事务所
- 代理商 于静; 刘瑞东
- 优先权: 11/162,959 2005.09.29 US
- 主分类号: H01L29/78
- IPC分类号: H01L29/78 ; H01L21/336
摘要:
一种MOSFET结构包括平面半导体衬底,栅极介质和栅极。超薄(UT)绝缘体上半导体沟道延伸到衬底的上表面下的第一深度并且与栅极自对准以及横向共同延伸。源极漏极区域在上表面下延伸到比第一深度更深的第二深度,并且与UT沟道区域自对准。第一BOX区域延伸穿过整个结构,并且在上表面下从第二深度垂直延伸到第三深度。在UT沟道区域下面的第二BOX区域的上部与栅极自对准并且横向共同延伸,并且在上表面下从第一深度垂直延伸到第三深度,并且第三深度大于第二深度。
公开/授权文献
- CN100452435C 平面超薄绝缘体上半导体沟道MOSFET及其制造方法 公开/授权日:2009-01-14
IPC分类: