实用新型
- 专利标题: 测试玻璃基板的设备
- 专利标题(英): Equipment for testing glass substrate
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申请号: CN201020220236.3申请日: 2010-06-01
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公开(公告)号: CN201732128U公开(公告)日: 2011-02-02
- 发明人: 白国晓 , 高原 , 王耀伟 , 田震寰
- 申请人: 北京京东方光电科技有限公司
- 申请人地址: 北京市经济技术开发区西环中路8号
- 专利权人: 北京京东方光电科技有限公司
- 当前专利权人: 京东方科技集团股份有限公司,北京京东方光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市经济技术开发区西环中路8号
- 代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- 代理商 刘芳
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00 ; G01R1/067 ; G02F1/13
摘要:
本实用新型提供一种测试玻璃基板的设备,包括承载玻璃基板的载台和向玻璃基板加载测试信号的探针框架,其中,还包括:定位装置,分别固设在载台的边缘上,用于调整探针框架到指定位置,指定位置为探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点对准的位置;固定装置,设置在探针框架上,用于当定位装置调整探针框架到指定位置之后,固定探针框架。本实用新型通过在载台的边缘上设置的定位装置,解决了现有技术中当探针框架上的探针与玻璃基板上的信号加入金属触点接触不良时,需要操作人员对探针框架的位置进行手动调整的问题,实现了自动调整探针框架的位置,节省了人力资源,从而提高了设备运行稼动率和玻璃基板的产量。