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公开(公告)号：CN101452123B
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN200710178946.7
申请日：2007-12-07
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/3648 , G09G2300/04
摘要： 本发明涉及一种基板测试电路，包括测试总线及与所述测试总线相连的测试信号端，所述基板中的待测信号线通过信号连接端连接到所述测试总线上，其中：所述测试总线上设置有多个信号接入端；每个所述信号接入端与所述测试信号端之间连接有一条测试支路；每条所述测试支路的电阻值相同。通过本发明，由于引入了多个信号接入端，添加具有相同阻值的测试支路，使得在不改变工艺流程和设备硬件结构的情况下，使显示屏各处的测试信号输入电阻和阻抗大小达到基本一致，较好的平均了各信号线的输入电阻和阻抗，从而保证了待测像素区内的测试信号没有区域性的明显衰减，克服了面板尺寸的限制，以实现对大型号的面板的测试。
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公开(公告)号：CN101566739B
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN200810105015.9
申请日：2008-04-25
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/13 , G02F1/1362
摘要： 本发明公开了一种阵列电路维修系统以及维修方法，涉及电路故障检测与维修技术领域；为解决现有技术中对无法确定的不良放弃维修的问题而发明。所述系统包括：系统控制单元，所述系统控制单元连接有运动单元，所述运动单元设置有查找定位单元以及维修单元，所述运动单元上还设置有线性扫描检测单元。所述方法包括：对阵列电路坐标不确定的不良进行线性扫描检测，得到准确的不良信息；根据所述的不良信息进行不良的查找定位；对所述不良进行维修。本发明所述系统，可用于阵列电路的检测，通过对无法确定的不良进行线性扫描检测，得到不良的具体点坐标，并进行维修，可以提高良品率，节约成本。
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公开(公告)号：CN111596460A
公开(公告)日：2020-08-28
申请号：CN202010607197.0
申请日：2020-06-29
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方光电科技有限公司
摘要： 本公开提供了一种抬头显示系统，包括：显示屏，用于图像显示；成像镜头，位于显示屏的出光侧，用于对显示屏的显示图像进行成像；曲面反射镜，位于成像镜头背离显示屏的一侧，用于接收成像镜头的成像光线并向人眼所在的位置反射；显示屏与成像镜头的相对位置固定，成像镜头与曲面反射镜采用分体式结构。显示屏与成像镜头中的透镜采用同轴设计，设计简单，组装更加容易。成像镜头和曲面反射镜采用分体式结构，使得曲面反射镜具有更高的自由度。
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公开(公告)号：CN101957531B
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN200910089476.6
申请日：2009-07-21
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/1362 , G02B27/00
摘要： 本发明实施例公开了一种阵列基板维修设备及方法，涉及液晶显示面板生产技术领域，能够提高设备产生的激光的能量检测的效率。本发明实施例提供的阵列基板维修设备，包括激光发生器，以及依次分布在激光光路上的光衰减器、光扩束器、光路狭缝和物镜；其中，在所述激光发生器与所述光衰减器之间、所述光衰减器和所述光扩束器之间以及所述光路狭缝和所述物镜之间均设有可旋转反射镜，激光经所述可旋转反射镜反射后到达置于所述阵列基板维修设备内部的激光能量测量探头。本发明提供的阵列基板维修设备及方法适用于对TFT-LCD阵列基板进行维修。
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公开(公告)号：CN101452123A
公开(公告)日：2009-06-10
申请号：CN200710178946.7
申请日：2007-12-07
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
CPC分类号： G09G3/006 , G09G3/3648 , G09G2300/04
摘要： 本发明涉及一种基板测试电路，包括测试总线及与所述测试总线相连的测试信号端，所述基板中的待测信号线通过信号连接端连接到所述测试总线上，其中：所述测试总线上设置有多个信号接入端；每个所述信号接入端与所述测试信号端之间连接有一条测试支路；每条所述测试支路的电阻值相同。通过本发明，由于引入了多个信号接入端，添加具有相同阻值的测试支路，使得在不改变工艺流程和设备硬件结构的情况下，使显示屏各处的测试信号输入电阻和阻抗大小达到基本一致，较好的平均了各信号线的输入电阻和阻抗，从而保证了待测像素区内的测试信号没有区域性的明显衰减，克服了面板尺寸的限制，以实现对大型号的面板的测试。
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公开(公告)号：CN101957531A
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200910089476.6
申请日：2009-07-21
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/1362 , G02B27/00
摘要： 本发明实施例公开了一种阵列基板维修设备及方法，涉及液晶显示面板生产技术领域，能够提高设备产生的激光的能量检测的效率。本发明实施例提供的阵列基板维修设备，包括激光发生器，以及依次分布在激光光路上的光衰减器、光扩束器、光路狭缝和物镜；其中，在所述激光发生器与所述光衰减器之间、所述光衰减器和所述光扩束器之间以及所述光路狭缝和所述物镜之间均设有可旋转反射镜，激光经所述可旋转反射镜反射后到达置于所述阵列基板维修设备内部的激光能量测量探头。本发明提供的阵列基板维修设备及方法适用于对TFT-LCD阵列基板进行维修。
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公开(公告)号：CN101295717B
公开(公告)日：2010-07-14
申请号：CN200710098706.6
申请日：2007-04-25
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L23/522 , H01L23/544 , H01L21/84 , H01L21/768 , G02F1/1362
CPC分类号： G09G3/006 , G02F1/1345 , G02F2001/136254 , G09G3/3648 , H01L27/12 , H01L27/1214
摘要： 本发明涉及一种薄膜晶体管面板及其制造方法，薄膜晶体管面板包括：至少两块显示区域以及检测区域，其中，一条所述栅极检测线至少对应连接一块所述显示区域引出的所有栅极线。制造方法包括：形成像素电极、栅极线、公共电极线、栅极检测线、奇、偶数据检测线、公共电极检测线、栅极检测触点、奇、偶数据检测触点及公共电极检测触点；沉积栅极绝缘层；形成数据线；形成具有暴露出所述栅极检测触点、奇、偶数据检测触点及公共电极检测触点的钝化层。通过上述技术方案，提高了检测区域电路的安全性，简化了薄膜晶体管面板的掩膜工艺流程以及薄膜晶体管显示区域的检测流程，从而提高了薄膜晶体管的生产效率，节约了生产成本。
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公开(公告)号：CN101566739A
公开(公告)日：2009-10-28
申请号：CN200810105015.9
申请日：2008-04-25
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： G02F1/13 , G02F1/1362
摘要： 本发明公开了一种阵列电路维修系统以及维修方法，涉及电路故障检测与维修技术领域；为解决现有技术中对无法确定的不良放弃维修的问题而发明。所述系统包括：系统控制单元，所述系统控制单元连接有运动单元，所述运动单元设置有查找定位单元以及维修单元，所述运动单元上还设置有线性扫描检测单元。所述方法包括：对阵列电路坐标不确定的不良进行线性扫描检测，得到准确的不良信息；根据所述的不良信息进行不良的查找定位；对所述不良进行维修。本发明所述系统，可用于阵列电路的检测，通过对无法确定的不良进行线性扫描检测，得到不良的具体点坐标，并进行维修，可以提高良品率，节约成本。
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公开(公告)号：CN101295717A
公开(公告)日：2008-10-29
申请号：CN200710098706.6
申请日：2007-04-25
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L23/522 , H01L23/544 , H01L21/84 , H01L21/768 , G02F1/1362
CPC分类号： G09G3/006 , G02F1/1345 , G02F2001/136254 , G09G3/3648 , H01L27/12 , H01L27/1214
摘要： 本发明涉及一种薄膜晶体管面板及其制造方法，薄膜晶体管面板包括：至少两块显示区域以及检测区域，其中，一条所述栅极检测线至少对应连接一块所述显示区域引出的所有栅极线。制造方法包括：形成像素电极、栅极线、公共电极线、栅极检测线、奇、偶数据检测线、公共电极检测线、栅极检测触点、奇、偶数据检测触点及公共电极检测触点；沉积栅极绝缘层；形成数据线；形成具有暴露出所述栅极检测触点、奇、偶数据检测触点及公共电极检测触点的钝化层。通过上述技术方案，提高了检测区域电路的安全性，简化了薄膜晶体管面板的掩膜工艺流程以及薄膜晶体管显示区域的检测流程，从而提高了薄膜晶体管的生产效率，节约了生产成本。
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公开(公告)号：CN202248749U
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201120376668.8
申请日：2011-09-30
申请人： 北京京东方光电科技有限公司
IPC分类号： E04F15/02
摘要： 本实用新型实施例提供一种洁净室通风孔地板，能够防止细小金属零件从通风孔中掉落丢失。该洁净室通风孔地板的通风孔处设置有磁性装置。本实用新型地板用于多层结构且需上下通风的洁净室。
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