实用新型
CN205262410U 一种多点同时测量单面镀膜透镜的镀膜厚度装置
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种多点同时测量单面镀膜透镜的镀膜厚度装置
- 专利标题(英): Multiple spot simultaneous measurement single face coated lens's coating film thickness device
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申请号: CN201520951061.6申请日: 2015-11-25
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公开(公告)号: CN205262410U公开(公告)日: 2016-05-25
- 发明人: 姚红兵 , 范宁 , 丁勇 , 王成 , 张瑞军
- 申请人: 江苏大学
- 申请人地址: 江苏省镇江市京口区学府路301号
- 专利权人: 江苏大学
- 当前专利权人: 江苏大学
- 当前专利权人地址: 江苏省镇江市京口区学府路301号
- 主分类号: G01B11/06
- IPC分类号: G01B11/06
摘要:
本实用新型提供了一种多点同时测量单面镀膜透镜的镀膜厚度装置,该装置包括光源、分光装置、透镜、光电位移传感器、信号放大器、光信号处理器和计算机;所述光源、分光装置、透镜和所述光电位移传感器的光接收面的中心同一光路上、且依次排列;所述光电位移传感器、信号放大器、光信号处理器和计算机依次电连接。光源经过所述分光装置分成多束光,经过透镜投射到所述光电位移传感器上,所述光电位移传感器将光信号经过所述信号放大装置放大后传送到所述光信号处理器,所述光信号处理器将光信号转换为电信号后输入到所述计算机,所述计算机进行薄膜厚度的计算,可实现同时多点测量单面镀膜透镜的镀膜厚度,通过对比镀膜厚度分析镀膜的均匀性。