本实用新型公开了一种电容芯片测试插座，包括测试盖和测试座，所述测试盖设置在所述测试座的上方，所述测试座与测试盖可翻转连接，所述测试座与测试盖之间设有卡紧装置和旋转装置，所述卡紧装置设置在旋转装置相对的一侧，所述测试盖与测试座之间设置有电容芯片，所述测试座包括上座体和下座体，所述上座体与下座体通过螺栓连接，所述测试座底部设置有螺旋顶杆结构，所述螺旋顶杆结构贯穿所述测试座与所述电容芯片相抵接，所述测试座上设有若干测试针，所述电容芯片与若干所述测试针卡接，方便取出电容芯片，能够实现电容芯片高频率测试。