本实用新型公开了芯片测试用恒力探针臂，包括基座、连接板、探针夹、第一弹性件及检测机构；连接板的一端铰接于基座、并可转动至第一位置和第二位置，连接板的另一端与探针夹固定连接；探针夹用于夹持探针；第一弹性件的一端与基座连接，第一弹性件的另一端与连接板连接；检测机构包括固定触头、活动触头、检测电源及提示件。本实用新型提出的技术方案的有益效果是：向下移动基座使探针与待检测的芯片接触，当探针与芯片之间产生接触压力时，连接板从第二位置转动至第一位置，从而固定触头与活动触头分离，以使检测电源与提示件电连接，提示件产生提示信号，从而基座停止继续下压，以防止探针与芯片之间的接触压力过大而影响探针的使用寿命。