发明公开
- 专利标题: Spektrometerobjektiv mit parallelen Objektiv- und Spektrometerfeldern für die Potentialmesstechnik
- 专利标题(英): Spectrometer objective with parallel objective and spectrometer fields for use in the potential measuring technique
- 专利标题(中): 光谱仪镜头与潜在计量平行镜头和光谱仪领域。
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申请号: EP83109565.8申请日: 1983-09-26
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公开(公告)号: EP0105439A2公开(公告)日: 1984-04-18
- 发明人: Plies, Erich, Dr. , Weyl, Reinhard, Dr. , Lischke, Burkhard, Prof., Dr.
- 申请人: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- 申请人地址: Wittelsbacherplatz 2 80333 München DE
- 专利权人: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- 当前专利权人: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- 当前专利权人地址: Wittelsbacherplatz 2 80333 München DE
- 优先权: DE3236273 19820930
- 主分类号: H01J37/05
- IPC分类号: H01J37/05 ; H01J37/252 ; H01J37/10
摘要:
Eine Vorrichtung für die Potentialmeßtechnik mit einer Objektivlinse zur Fokussierung von Primärelektronen (PE) auf ein Objekt (PR) und mit einem Spektrometer zur Energieselektion von Sekundärelektronen soll eine Verbessergung der quantitativen Potentialmessung an Leitbahnen von integrierten mikroelektronischen Bauelementen mit verbesserter Ortsauflösung, höherem Sondenstrom und verbesserter Potentialauflösung ermöglichen. Die Objektivlinse ist eine magnetische Linse, bei der das Linsenfeld (B) weitgehend außerhalb des Linsenkörpers liegt, und das Spektrometer ist ein elektrostatisches Gegenfeld-Spektrometer und im magnetischen Feld (B) dieser Linse angeordnet.
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