发明授权
EP0141751B1 Process for determining the basis weight of a low atomic number material in a mixture with a higher atomic number material
失效
用于确定具有较高原子数量的混合物中的低原子数量材料的基重的方法
- 专利标题: Process for determining the basis weight of a low atomic number material in a mixture with a higher atomic number material
- 专利标题(中): 用于确定具有较高原子数量的混合物中的低原子数量材料的基重的方法
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申请号: EP84402212.9申请日: 1984-11-05
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公开(公告)号: EP0141751B1公开(公告)日: 1989-07-05
- 发明人: Hegland, Philip M. , Dahlquist, John
- 申请人: MEASUREX CORPORATION
- 申请人地址: One Results Way Cupertino, California 95014 US
- 专利权人: MEASUREX CORPORATION
- 当前专利权人: MEASUREX CORPORATION
- 当前专利权人地址: One Results Way Cupertino, California 95014 US
- 代理机构: Mongrédien, André
- 优先权: US549026 19831107
- 主分类号: G01N23/08
- IPC分类号: G01N23/08 ; G01N23/16
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